[发明专利]具有斜交检测电极组的接近检测装置

说明书

接近检测装置具备：第1检测电极组，其具有多根检测电极；第2检测电极组，其具有与第1检测电极组正交的多根检测电极；斜交检测电极组，其具有分别与第1检测电极组以及第2检测电极组斜交的多根检测电极；检测单元，其针对第1检测电极组、第2检测电极组以及斜交检测电极组的每一个，能够检测与检测对象物的接近状态对应的静电电容；以及控制单元，其切换并执行第1检测模式和第2检测模式，该第1检测模式基于第1检测电极组以及第2检测电极组各自的静电电容，判定一个检测对象物的接近状态，该第2检测模式基于第1检测电极组、第2检测电极组以及斜交检测电极组各自的静电电容，判定多个检测对象物各自的接近状态。

技术领域

本发明涉及接近检测装置。

背景技术

以往，一般的检测装置在检测面具有呈格子状配置的多根X轴电极以及多根Y轴电极。在这样的检测装置中，通过采用如下方法能够高速地检测接近检测面的检测对象物，该方法为，一并驱动多根X轴电极并将各X轴电极的静电电容一并作为自电容进行检测后，一并驱动多根Y轴电极而将各Y轴电极的静电电容一并作为自电容进行检测。然而，在该方法中，在接近检测面的检测对象物为多个的情况下，产生所谓的“重影(ghost)”，有可能检测出错误的接近位置。

因此，作为防止这样的误检测的方法，例如，考虑如下的方法，即，将多根X轴电极依次各驱动一根，每当驱动一根X轴电极时，将多根Y轴电极各自的静电电容一并(或依次)作为自电容进行检测。通过该方法，即使在接近检测面的检测对象物为多个的情况下，也能够正确地判定多个检测对象物各自的接近位置。然而，在该方法中，由于需要依次执行X轴电极的根数对应量(或X轴电极的根数×Y轴电极的根数对应量)的检测过程，因此，有可能无法高速地检测检测对象物。

此外，例如，在下述专利文献1中公开了如下的技术，即，配置为，在各区域内，沿相互不同的四个方向(纵向、横向、从左下向右上延伸的方向、从右下向左上延伸的方向)呈直线状延伸的四个电极相交，在这四个电极大致均等地产生静电电容的变化，由此检测手指等接近该区域。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2016/021356号

发明内容

-发明要解决的课题-

然而，在上述专利文献1的技术中，能够高精度地检测检测对象物的接近位置，另一方面，即使在检测一个检测对象物的接近的情况下，也需要依次驱动四个电极的每一个，因此，有可能无法高速地检测检测对象物。

-用于解决课题的手段-

一个实施方式的接近检测装置具备：第1检测电极组，其具有多根检测电极；第2检测电极组，其具有与第1检测电极组正交的多根检测电极；斜交检测电极组，其具有分别与第1检测电极组以及第2检测电极组斜交的多根检测电极；检测单元，其针对第1检测电极组、第2检测电极组以及斜交检测电极组的每一个，能够检测与检测对象物的接近状态对应的静电电容；以及控制单元，其切换并执行第1检测模式和第2检测模式，该第1检测模式基于第1检测电极组以及第2检测电极组各自的静电电容，判定一个检测对象物的接近状态，该第2检测模式基于第1检测电极组、第2检测电极组以及斜交检测电极组各自的静电电容，判定多个检测对象物各自的接近状态。

-发明效果-

根据一个实施方式，能够高速且高精度地检测检测对象物的接近状态。

附图说明

图1是表示一个实施方式所涉及的接近检测装置的结构的图。

图2是一个实施方式所涉及的接近检测装置中的动作模式的状态转变图。

图3是表示一个实施方式所涉及的接近检测装置动作次序的第1例的流程图。

图4是表示一个实施方式所涉及的接近检测装置动作次序的第2例的流程图。