[发明专利]所施加的荧光粘合剂的图像的分析在审

专利信息
申请号: 201980068344.7 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN112868030A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: N·C·温 申请(专利权)人: 瑞维安知识产权控股有限责任公司
主分类号: G06K9/03 分类号: G06K9/03;G06K9/20
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 曹瑾
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 施加 荧光 粘合剂 图像 分析
【权利要求书】:

1.一种用于分析粘合剂的施加的方法,包括:

将包括荧光性质的粘合剂施加到部件;

使用来自光源的一个或多个波长的光来照亮所述部件,其中所述粘合剂被配置为吸收所述一个或多个波长的光并且作为响应而发荧光;

在使用所述光源来照亮所述部件时,使用相机来捕获所述部件的图像;

根据所述图像确定一个或多个荧光特性;以及

基于所述一个或多个荧光特性来确定所施加的粘合剂的状态。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述光源为紫外光源。

3.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述一个或多个荧光特性包括将所述图像与样品图像进行比较。

4.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述一个或多个荧光特性还包括:

基于所述图像来确定荧光形状;

确定所述荧光形状是否类似于预期荧光形状。

5.根据权利要求4所述的方法,还包括:

响应于确定所述荧光形状基本上类似于所述预期荧光形状,确定所述粘合剂被正确地施加;以及

响应于确定所述荧光形状基本上不类似于所述预期荧光形状,确定所述粘合剂被不正确地施加。

6.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述一个或多个荧光特性还包括:

基于所述图像来确定荧光水平;以及

确定所述图像中的所述荧光水平是否类似于预期荧光水平。

7.根据权利要求6所述的方法,还包括:

响应于确定所述荧光水平基本上类似于所述预期荧光水平,确定所述粘合剂被正确地施加;以及

响应于确定所述荧光水平基本上不类似于所述预期荧光水平,确定所述粘合剂被不正确地施加。

8.根据权利要求7所述的方法,其中:

响应于确定所述荧光水平基本上不类似于所述预期荧光水平,确定所述粘合剂的组合物是不正确的。

9.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述一个或多个荧光特性还包括:

基于所述图像来确定荧光位置;以及

确定所述荧光位置是否类似于预期荧光位置。

10.根据权利要求9所述的方法,还包括:

响应于确定所述荧光位置基本上类似于所述预期荧光位置,确定所述粘合剂被正确地施加;以及

响应于确定所述荧光位置基本上不类似于所述预期荧光位置,确定所述粘合剂被不正确地施加。

11.根据权利要求1所述的方法,其中所述相机是位于第一位置处的第一相机并且其中所述图像是第一图像,所述方法还包括:

从位于与所述第一位置不同的第二位置处的第二相机捕获第二图像;以及

分析所述第一图像和所述第二图像以确定所施加的粘合剂的高度轮廓。

12.根据权利要求1所述的方法,其中所述粘合剂和所述部件是类似的颜色。

13.根据权利要求1所述的方法,其中所述粘合剂具有一定水平的透明度。

14.根据权利要求1所述的方法,其中确定所施加的粘合剂的状态还包括将所述图像的一个或多个特性与对应于所述一个或多个特性的一个或多个阈值进行比较。

15.根据权利要求1所述的方法,其中确定所述一个或多个荧光特性还包括确定所施加的粘合剂的体积和所施加的粘合剂的高度轮廓中的一者或多者。

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