[发明专利]分光光度计和分光分析装置、以及分光光度计的制造方法在审
申请号: | 201980068536.8 | 申请日: | 2019-11-19 |
公开(公告)号: | CN112912701A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 八重樫健太;江畠佳定;青野宇纪 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01J3/20 | 分类号: | G01J3/20;G01J3/36;H01L31/00;G01N21/27;G02B5/18 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 邓晔;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 光度计 分析 装置 以及 制造 方法 | ||
分光光度计(300)包括白色光源(212)、对从白色光源(212)释放的光进行聚光的聚光透镜(242a、242b)、对由聚光透镜(242a、242b)聚光后的光进行衍射的狭缝(245)、对通过狭缝(245)的光进行分光的凹面衍射光栅(246)、以及具有对由凹面衍射光栅(246)分光后的光进行检测的多个光检测元件(304)的多波长检测器(248),多波长检测器(248)具有的多个光检测元件(304)中的各个配置于凹面衍射光栅(246)的成像位置。
技术领域
本发明涉及一种优选为搭载在自动分析装置等分光分析装置上的分光光度计及其制造方法、分光分析装置。
背景技术
作为维持光学部件间的高位置精度和小型性、同时能够以高性能进行高稳定测定、并且有高可靠性的廉价的分光光度计的一个示例,记载有在包括光导波路、用于使入射光入射到光导波路中的光入射狭缝、用于对入射到光导波路内的入射光进行分光的衍射光栅、以及用于检测由衍射光栅分光后的入射光的光电二极管阵列的分光光度计中,将光导波路、光入射狭缝和衍射光栅与光导波路基板一体形成,将形成光电二极管阵列的光电转换元件基板安装到设置在光导波路基板上的安装部来构成分光光度计。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2004-309146号公报
非专利文献
非专利文献1:工藤惠荣著“分光的基础和方法”,欧姆社刊,1985年7月发行
发明内容
发明所要解决的技术问题
自动分析装置是对采集的试料进行成分的分析和有无微生物等的检查的装置,在医院的检查室和检查中心等广泛地普及。
近年来,对于生物化学自动分析装置,从减轻患者的负担、降低装置的运行成本等理由出发,对试料体积的微量化的需求日益高涨。作为满足该需求的技术之一,需要能够高精度测定微小光的技术。
分光分析装置中所提供的测光机构主要由白色光源、聚光透镜、狭缝、凹面衍射光栅以及多波长检测器所构成。
在这样的测光机构中,来自白色光源的光被聚光透镜聚光,照射放入反应容器中的试料,利用聚光透镜将从试料透过的光聚光在狭缝的开口部上。通过狭缝的光被凹面衍射光栅进行波长色散以形成光谱。然后,用多波长检测器检测所形成的光谱。
在公知的一般技术中,多波长检测器使用将多个光检测元件呈直线状进行排列而得到的检测器。
这里,凹面衍射光栅的成像位置由多波长检测器的曲面基板的曲率半径和刻划的槽的周期决定。
以下,对当前所使用的槽周期为等间隔的凹面衍射光栅进行说明。
在一般的凹面衍射光栅中,以使得刻出的槽周期相对于曲面基板的弦均为相同的周期的方式刻划槽。
当凹面衍射光栅用于分光目的时,通常从特殊的位置向凹面衍射光栅投射发散光。
已知,作为特殊情况,当以凹面衍射光栅的曲率半径为直径的罗兰圆上设置狭缝并向其投射发散光时,成像点也位于罗兰圆上(非专利文献1)。
在当前使用的多波长检测器中,当不使衍射光栅旋转时,与成像点位于成为圆弧上的罗兰圆的情况相对,由于光检测元件呈直线状配置,因而不能检测光,并且不能使用槽周期为等间隔的凹面衍射光栅。
此外,为了降低像差的影响,也使用了槽周期为不等间隔的凹面衍射光栅。这样的凹面衍射光栅主要用于自动分析装置。
在槽周期为不等间隔的凹面衍射光栅中,以使得刻出的槽的周期相对于曲面基板的弦成为不同的周期的方式进行刻划。
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