[发明专利]使用内置自测控制器测试只读存储器

权利要求书

1.一种系统，其包括：

易失性存储装置；

只读存储器ROM；

存储器内置自测BIST控制器；及

中央处理单元CPU，其用以在发生初始化事件后即刻：

执行来自所述ROM的第一指令以致使所述CPU将多个指令从所述ROM中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置；

执行来自所述ROM的第二指令以改变程序计数器；及

使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置的所述多个指令，所述CPU在执行所述多个指令时，致使所述ROM进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器经配置以测试所述ROM。

2.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述ROM具有耦合到所述CPU的第一端口且所述ROM具有耦合到所述存储器BIST控制器的第二端口；且

当所述CPU致使所述ROM进入所述测试模式时，所述ROM停用所述第一端口并启用所述第二端口。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述CPU在执行所述多个指令时，还致使所述ROM退出所述测试模式。

4.根据权利要求3所述的系统，其中所述CPU在执行所述多个指令时，致使所述ROM在所述存储器BIST控制器完成所述ROM的所述测试后即刻退出所述测试模式。

5.根据权利要求3所述的系统，其中在致使所述ROM退出所述测试模式后，即刻启用所述ROM的第一端口并停用其第二端口。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述CPU在执行所述多个指令时，还致使所述CPU再次将所述程序计数器改变为与所述ROM中的地址对应的新值。

7.根据权利要求6所述的系统，其中所述程序计数器的所述新值对应于在所述第一多个指令的所述一系列地址之后的ROM地址。

8.根据权利要求7所述的系统，其中所述CPU执行来自所述ROM的第二指令以致使所述CPU确定所述ROM是否通过了由所述存储器BIST控制器对其进行的测试。

9.一种非暂时性存储装置，其存储在由中央处理单元CPU执行时致使所述CPU进行以下操作的指令：

将多个指令从在所述非暂时性存储装置内的一系列地址拷贝到易失性存储装置；

执行来自所述非暂时性存储装置的第一指令以将程序计数器改变为对应于所述易失性存储装置中的地址；及

执行来自所述非暂时性存储装置的第二指令以检查所述非暂时性存储装置是否通过了由第二装置执行的测试。

10.根据权利要求9所述的非暂时性存储装置，其中所述第二装置包括内置自测控制器。

11.根据权利要求9所述的非暂时性存储装置，其中待拷贝到所述易失性存储装置的所述多个指令包括用以致使所述非暂时性存储装置停用待耦合到所述CPU的端口，且用以致使所述非暂时性存储装置启用待耦合到所述第二装置的端口的指令。

12.根据权利要求9所述的非暂时性存储装置，其中待拷贝到所述易失性存储装置的所述多个指令包括用以致使所述第二装置经配置以测试所述非暂时性存储装置的指令。

13.根据权利要求9所述的非暂时性存储装置，其中待拷贝到所述易失性存储装置的所述多个指令包括用以致使所述CPU等待所述第二装置完成对所述非暂时性存储装置的所述测试的指令。

14.根据权利要求9所述的非暂时性存储装置，其中待拷贝到所述易失性存储装置的所述多个指令包括用以致使所述非暂时性存储装置启用待耦合到所述CPU的所述端口并停用待耦合到所述第二装置的所述端口的指令。