[发明专利]使用内置自测控制器测试只读存储器

说明书

一种系统包含易失性存储装置(106)、只读存储器ROM(104)、存储器内置自测BIST控制器(110)及中央处理单元CPU(102)。所述CPU(102)在发生复位事件后即刻执行来自所述ROM(104)的第一指令，以致使所述CPU(102)将指令从所述ROM(104)中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置(106)。所述CPU(102)还执行来自所述ROM(104)的第二指令以改变程序计数器。所述CPU(102)进一步使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令。所述CPU(102)在执行来自所述易失性存储装置(106)的所述指令时，致使所述ROM(104)进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器(110)经配置以测试所述ROM(104)。

背景技术

许多电子系统包含执行来自存储器的代码的微处理器。此类系统通常包含只读存储器(ROM)及随机存取存储器(RAM)。“启动”ROM可包含于系统中以存储在系统的启动过程期间执行的代码。许多系统在启动过程期间及/或在已完成启动过程之后的闲置时间期间测试RAM及ROM以确认此类存储器是否结构上完整无缺及所存储的数据是否可靠。

发明内容

在一个实例中，一种系统包含易失性存储装置、只读存储器(ROM)、存储器内置自测(BIST)控制器及中央处理单元(CPU)。所述CPU在发生复位事件后即刻执行来自所述ROM的第一指令以致使所述CPU将多个指令从所述ROM中的一系列地址拷贝到所述易失性存储装置。所述CPU还执行来自所述ROM的第二指令以改变程序计数器。所述CPU进一步使用所述程序计数器执行来自所述易失性存储装置的所述多个指令。所述CPU在执行来自所述易失性存储装置的所述多个指令时致使所述ROM进入测试模式且致使所述存储器BIST控制器经配置以测试所述ROM。

在另一实例中，一种方法包含：将多个指令从只读存储器(ROM)内的一系列地址拷贝到易失性存储装置；及将程序计数器的值改变为对应于所述易失性存储装置内的在所述多个指令的开始处的地址。所述方法进一步包含执行来自所述易失性存储装置的所述多个指令。所述指令包含用以将所述程序计数器的所述值改变为对应于继所述ROM内的所述多个指令的末尾之后的在所述ROM内的地址的指令。所述方法还包含执行在所述ROM内的指令以确定所述ROM是否通过了测试。

附图说明

图1图解说明用于测试ROM的实例性系统。

图2图解说明将代码从ROM拷贝到RAM以从RAM执行代码从而由存储器内置自测(MBIST)控制器起始ROM的测试。

图3图解说明用于使用MBIST控制器测试ROM的时间线。

图4展示用于测试ROM的系统的另一实例。

图5是用于测试ROM的方法的流程图。

具体实施方式

如上文所描述，在启动过程期间验证ROM的内容。循环冗余检验(CRC)技术通常用于验证ROM的内容。CRC技术是耗时的，且一些应用可具有严格定时要求。在(举例来说)其中可包含含有ROM的电路的汽车应用的情形中，需要在相对最小时间窗内验证ROM的内容，特别是在ROM是安全关键电路的一部分时。举例来说，每当司机打开汽车时，在所述汽车内的一或多个ROM可需要验证其内容。然而，司机期望在启动汽车之后能够很快驾驶汽车并使汽车安全地操作。