[发明专利]异常检测装置、异常检测方法和程序在审

专利信息
申请号: 201980071540.X 申请日: 2019-10-29
公开(公告)号: CN112955839A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 堤诚司;平林美树 申请(专利权)人: 国立研究开发法人宇宙航空研究开发机构
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02;G06F16/90
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 马运刚;浦彩华
地址: 日本东京都调布*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 异常 检测 装置 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种异常检测装置,其中,包括:

取得部,取得多个传感器的各个传感器每规定时间检测检测对象的状态而得的多个检测结果;和

推定部,针对通过所述取得部取得的多个所述检测结果的各个检测结果,根据进行提取与异常的性质相应的特征的多个模信息取得处理而得到的多个模信息,推定多个所述传感器中的、可能有异常的特定传感器。

2.根据权利要求1所述的异常检测装置,其中,

所述异常检测装置还包括解析部,该解析部利用时间结构将通过所述取得部每规定时间取得的所述检测结果的时序信息重构为各所述传感器的多变量数据,并利用多变量解析手法解析重构了的所述多变量数据,由此取得多个所述模信息,

所述推定部根据通过所述解析部取得的多个所述模信息来推定所述特定传感器。

3.根据权利要求2所述的异常检测装置,其中,

所述解析部利用滑动窗口法将所述时间结构导入到所述多变量数据。

4.根据权利要求3所述的异常检测装置,其中,

所述解析部通过将所述滑动窗口法的窗宽设为规定值以上,从而去除所述多变量数据的噪音。

5.根据权利要求2~4中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述解析部针对选择了两个以上的所述传感器的各传感器组,在每个检测时刻对所述传感器组的同一时刻的检测结果进行组合,由此将所述检测结果重构为多变量数据,并利用多变量解析手法解析重构了的所述多变量数据,从而取得多个所述模信息。

6.根据权利要求5所述的异常检测装置,其中,

所述解析部针对选择了两个以上的所述传感器的各传感器组,在每个检测时刻对从通过时间结构的导入按照各所述传感器重构了的所述多变量数据利用多变量解析而得到的模信息进行组合,由此将各所述传感器的模信息重构为多变量数据,并利用多变量解析手法解析重构了的所述多变量数据,由此取得多个所述模信息。

7.根据权利要求2~6中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述解析部在多个所述传感器之中关于规定的数量的传感器、关于规定的种类的传感器、或者关于相互处于相关关系的传感器,取得所述模信息。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述异常检测装置还包括导出部,该导出部导出组合两个所述模信息并将一模信息所包含的要素分别设为二维的相位平面的第一轴上的值、将另一模信息所包含的要素分别设为所述相位平面的第二轴上的值且将同时刻的要素设为坐标而成的轨迹,

所述推定部根据通过所述导出部导出的所述轨迹来推定所述特定传感器。

9.根据权利要求1~8中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述异常检测装置还包括导出部,该导出部导出将所述模信息的计测时刻所涉及的信息设为坐标平面的第一轴、将所述模信息的计测值所涉及的信息设为所述坐标平面的第二轴的二维平面上的轨迹。

10.根据权利要求8或9所述的异常检测装置,其中,

所述导出部关于有相关关系的所述传感器导出所述轨迹。

11.根据权利要求8~10中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述推定部在通过所述导出部导出的所述轨迹的形状与通常状态的轨迹的形状不同的情况下,推定所述轨迹所涉及的所述传感器作为所述特定传感器。

12.根据权利要求8~11中任一项所述的异常检测装置,其中,

所述异常检测装置还包括相异度算出部,该相异度算出部根据所述轨迹的形状来算出相异度,

所述推定部在通过所述相异度算出部算出的所述相异度与通常时的数据相互间的相异度相比大的情况下,推定该相异度所涉及的所述传感器作为所述特定传感器。

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