[发明专利]异常检测装置、异常检测方法和程序

说明书

异常检测装置包括：取得部，取得多个传感器的各个传感器每规定时间检测到检测对象的状态的多个检测结果；和推定部，根据能够对从通过所述取得部取得的多个所述检测结果得到的、与异常的性质相应的各种各样的特征进行提取的多个模信息取得处理数据，推定多个所述传感器中的特定传感器。

技术领域

本发明涉及异常检测装置、异常检测方法和程序。

本申请以2018年10月30日在日本申请的特愿2018-204515号为依据主张优先权，在此援引其内容。

背景技术

以往，在多样的系统(核反应堆、飞行器的发动机、铁路网、生命维持装置等)中，为了将异常带来的损伤抑制到最小限，有取得设于系统的传感器的检测结果，并在取得了的检测结果所示出的值超过了预先设定的阈值的情况下检测为异常的手法(例如，专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2017-156201号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

但是，在现有的技术中，存在由于对应于运行条件、环境的变化而阈值发生变化等，所以难以检测异常的情况。另外，在阈值的设定困难的情况下，难以在预兆的阶段下判断异常的发生。

本发明就是考虑这样的事情而完成的，其目的之一在于提供无需预先设定阈值就能够推定可能有异常的传感器的异常检测装置、异常检测方法和程序。

用于解决技术问题的方案

本发明的一方式是一种异常检测装置，包括：取得部，提取多个传感器的各个传感器每规定时间检测检测对象的状态而得的多个检测结果；和推定部，针对通过所述取得部取得的多个所述检测结果的各个检测结果，根据进行提取与异常的性质相应的特征的多个模信息取得处理而得到的多个模信息，推定所述多个传感器中的、可能有异常的特定传感器。

发明效果

根据本发明，无需预先设定阈值而能够推定可能有异常的传感器。

附图说明

图1是示出实施方式的异常检测装置1的结构的一例的图。

图2是示出检测结果信息300的内容的一例的图。

图3是示出相关关系信息202的内容的一例的图。

图4是示出参考信息206的内容的一例的图。

图5是示出“第一种模信息取得处理”的一例的图。

图6是示出“第二种模信息取得处理”的一例的图。

图7是示出通常状态下的传感器计测值的经时变化的一例的曲线图。

图8是示出通常状态下的相位平面上的轨迹的形状的一例的图。

图9是示出异常状态下的传感器计测值的经时变化的一例的曲线图。

图10是示出异常状态下的相位平面上的轨迹的形状的一例的图。

图11是示出通过相异度算出部108分类的复功率倒谱距离Dc的一例的图(树状图)。

图12是通过推定部109生成的状态迁移矩阵的一例的图。

图13是示出异常检测装置1的处理的一系列流程的流程图。

图14是示出步骤S102所涉及的特定传感器的推定处理的一系列流程的流程图。

图15是示出步骤S302所涉及的特定传感器的推定处理的一系列流程的流程图。

具体实施方式