[发明专利]单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器

说明书

提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线构造解析的单晶X射线构造解析装置，还提供用于其的方法、试料保持器。具备：产生X射线的X射线源；对试料进行保持的试料保持器(250)；安装并转动试料保持器(250)的测角仪；X射线照射部，针对保持在安装于测角仪的试料保持器(250)的试料，照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线进行试料的构造解析，试料保持器(250)包括能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，细孔性复合晶体在试料保持器(250)被安装在测角仪的状态下，被固定在被照射来自试料保持器(250)的X射线照射部的X射线的位置。

技术领域

本发明涉及能够通过其原子、分子的排列等微型的聚集构造而对材料的构造进行解析的下一代单晶X射线构造解析装置和其方法，特别地，涉及包括进行包含成为解析的对象的单晶试料的制作的处理的器具的单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器。

背景技术

在新的器件、材料的研究开发中，经常进行材料的合成、材料的评价、基于此的下一个研究方针的决定。在使用用于在短期内进行材料开发的X射线衍射的物质的构造解析中，为了效率优异地探索实现目标的材料的功能/物性的物质构造，能够高效地进行构造解析的以物质的构造解析为中心的物质构造的探索方法和使用于其的X射线构造解析是不可或缺的。

然而，关于基于通过该手法获得的结果来进行构造解析，如果不是X射线的专家则难以进行。因此，要求即使不是X射线的专家也能够进行构造解析的X射线构造解析系统。其中，特别地，如也在以下的专利文献1中公知的那样，单晶X射线构造解析作为能够正确地获得精度高的分子的立体构造的手法而受到关注。

另一方面，在该单晶X射线构造解析中，有必须将试料晶体化以准备单晶这样的大的制约。然而，如还在以下的非专利文献1、2中，进一步地在专利文献2中公知的那样，通过称为“晶体海绵”的材料(例如，无数地开有直径0.5nm到1nm的细孔的细孔性复合晶体)的开发，也包括不晶体化的液体状化合物、不能确保足以进行晶体化的量的试料等而能够广泛地应用单晶X射线构造解析。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-3394号公报

专利文献2：日本再公表专利WO2016/017770号公报

非专利文献

非专利文献1：Makoto Fujita；X-ray analysis on the nanogram to microgramscale using porous complexes；Nature 495，461-466；28March 2013

非专利文献2：Hoshino et al.(2016)，The updated crystalline spongemethod IUCrJ，3，139-151

发明内容

发明要解决的课题

然而，在成为利用上述的晶体海绵的以往技术的单晶X射线构造解析中，需要迅速且正确地进行伴随着如下那样的精细且周密的作业的工序：与将由各种装置分离的数ng～数μg程度的极微量的试料吸附到尺寸100μm程度的极微小且脆弱(fragile)的晶体海绵的骨格内的工序同时，进一步地取出吸附有该试料的极微小的晶体海绵，安装于器具，并搭载于单晶X射线构造解析装置内的X射线照射位置。另外，这些在短时间内进行的精细且周密的作业对吸附到晶体海绵之后的试料的测定结果具有很大的影响，是非常重要的作业。