[发明专利]使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器的光谱鉴别

权利要求书

1.一种用于X射线成像系统的检测器，所述检测器包括：

至少一个高分辨率层，包括彼此平行放置的多个高分辨率波长偏移光纤，其中，每个所述光纤在闪烁屏下延伸穿过检测区域并穿出所述检测区域、并且回送到所述检测区域中，所述闪烁屏覆盖所述高分辨率波长偏移光纤，其中，多个所述高分辨率波长偏移光纤中的每个占据所述检测器的不同区域；

至少一个低分辨率层，包括多个低分辨率区域，多个所述低分辨率区域具有以平行配置布局的多个低分辨率光纤，其中，多个所述低分辨率光纤中的每个被配置为偏移接收到的波长；以及

分段多通道光电倍增管PMT，用于耦合从高分辨率光纤和所述低分辨率区域获得的信号。

2.根据权利要求1所述的检测器，其中，多个所述高分辨率光纤包括范围为0.2mm至2mm的所述高分辨率光纤。

3.根据权利要求1所述的检测器，其中，多个所述低分辨率区域包括范围为1mm至3mm的所述低分辨率光纤。

4.根据权利要求1所述的检测器，其中，所述PMT包括8至16个通道。

5.根据权利要求1所述的检测器，其中，所述检测器包括至少一个闪烁体层，所述闪烁体层光学耦合到所述至少一个高分辨率层。

6.根据权利要求1所述的检测器，其中，多个所述高分辨率光纤中的每个和多个所述低分辨率光纤中的每个由塑料制成。

7.根据权利要求1所述的检测器，其中，多个所述高分辨率光纤中的每个和多个所述低分辨率光纤中的每个的直径小于200微米。

8.根据权利要求1所述的检测器，其中，多个所述高分辨率光纤中的每个和多个所述低分辨率光纤中的每个覆盖有闪烁材料。

9.根据权利要求1所述的检测器，还包括闪烁体层，所述闪烁体层位于所述至少一个高分辨率层与所述至少一个低分辨率层之间。

10.根据权利要求1所述的检测器，还包括一个或多个闪烁体滤波器，所述一个或多个闪烁体滤波器嵌入在所述至少一个高分辨率层以及所述至少一个低分辨率层中的至少一个内。

11.一种用于X射线成像系统的检测器，所述检测器包括：

多个波长偏移光纤，其中，多个所述波长偏移光纤中的每个具有第一边缘和第二边缘；

第一刚性条，连接到多个所述波长偏移光纤中的每个的所述第一边缘并且被配置为向多个所述波长偏移光纤中的每个提供机械支撑；以及

第二刚性条，连接到多个所述波长偏移光纤中的每个的所述第二边缘并且被配置为向多个所述波长偏移光纤中的每个提供机械支撑，其中，多个所述波长偏移光纤通过所述第一刚性条和所述第二刚性条物理地结合在一起以形成片材，并且其中，多个所述波长偏移光纤的所述第二边缘与光电倍增管光学耦合。

12.根据权利要求11所述的检测器，其中，多个所述波长偏移光纤中的每个彼此相邻地定位，而在多个所述波长偏移光纤中的每个之间没有间隔。

13.根据权利要求11所述的检测器，其中，多个所述波长偏移光纤中的每个覆盖有闪烁材料，以形成用于入射检测X射线的闪烁屏。

14.根据权利要求11所述的检测器，其中，多个所述波长偏移光纤中的每个的直径小于200微米。

15.一种检测器，包括多个波长偏移光纤和闪烁体粉末，多个所述波长偏移光纤通过模制片材物理地结合在一起，所述闪烁体粉末嵌入在多个所述波长偏移光纤中的每个之间，从而形成检测器片材。

16.根据权利要求15所述的检测器，其中，多个波长偏移WSF光纤中的每个之间的距离约为3mm。