[发明专利]使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器的光谱鉴别

说明书

本说明书提供了一种用于X射线成像系统的检测器。该检测器包括：至少一个高分辨率层，具有高分辨率波长偏移光纤，每个光纤占据检测器的不同区域；至少一个低分辨率层，具有低分辨率区域；以及单个分段多通道光电倍增器管，用于耦合从高分辨率光纤和低分辨率区域获得的信号。

交叉引证

本申请是题为“使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器的光谱鉴别(SpectralDiscrimination using Wavelength-Shifting Fiber-Coupled ScintillationDetectors)”并于2019年1月8日提交的美国专利申请号16/242,163的部分延续申请，该部分延续申请是于2017年4月18日提交并于2019年2月19日作为美国专利号发布的同一标题的美国专利申请号15/490,787的延续申请，而该延续申请又是于2016年2月23日提交并于2017年5月23日作为美国专利号9,658,343(“‘343专利”)发布的同一标题的美国专利申请号15/050,894的延续申请。

‘343专利是于2013年2月4日提交并于2016年3月15日作为美国专利号9,285,488(‘488专利)发布的题为“使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器的X射线检查(X-RayInspection Using Wavelength-Shifting Fiber-Coupled Scintillation Detectors)”的美国专利申请号13/758,189的一个分案。‘488专利又要求以下申请的优先权：

于2012年3月6日提交的题为“使用波长偏移光纤耦合检测器进行X射线检查(X-Ray Inspection using Wavelength-Shifting Fiber-Coupled Detectors)”的美国临时专利申请号61/607,066；

于2012年2月14日提交的题为“具有波长偏移光纤读出的分布式X射线闪烁检测器(Distributed X-Ray Scintillation Detector with Wavelength-Shifted FiberReadout)”的美国临时专利申请号61/598,521；以及

于2012年2月14日提交的题为“使用波长偏移光纤耦合检测器进行X射线检查(X-Ray Inspection Using Wavelength-Shifting Fiber-Coupled Detectors)”的美国临时专利申请号61/598,576。

上述申请通过引用整体并入本文。

技术领域

本说明书涉及光纤耦合闪烁检测器及其制造方法、以及采用光纤耦合闪烁检测器以用于X射线的有效检测的X射线检查系统和方法。

背景技术

在过去的30年中，已经使用了辐射和粒子的光纤耦合闪烁检测器。在某些情况下，闪烁体是像素化的，由离散的闪烁体元素组成，并且在其他情况下，采用其他策略(例如正交交叉耦合的光纤)以提供空间分辨率。光纤耦合闪烁检测器的示例由美国专利号(Nos.)6,078,052(授予DiFilippo)和7,326,933(授予Katagiri等人)提供，这两个专利均通过引用并入本文。DiFilippo和Katagiri等人描述的检测器采用波长偏移光纤(WSF)，以便可以以低衰减将光纤纤芯材料发出的光传导到通常位于远离闪烁体本身的方便位置的光电检测器。空间分辨率在诸如中子成像的应用中具有特殊价值。在费米大面积空间望远镜(以前为GLAST)中，空间分辨率也是至关重要的，在该望远镜中，高效的分段闪烁检测器采用WSF读出来检测高能宇宙射线，如Moiseev,et al.,High efficiency plastic scintillatordetector with wavelength-shifting fiber readout for the GLAST Large AreaTelescope,Nucl.Instr.Meth.Phys.Res.A,vol.583,pp.372-81(2007)中描述，其通过引用并入本文。