[发明专利]单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法

说明书

提供能够对细孔性络合物晶体供给试样并使其可靠地吸藏的单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法。吸藏装置(300)使试样吸藏，具备：将所述试样供给到被插入保持细孔性络合物晶体的试样固定器(310)的涂敷器(311)的内部的供给部；控制所述涂敷器(311)的温度的温度调整部(320)；从被插入所述试样固定器(310)的所述涂敷器(311)的内部将所述试样运出的排出部；和控制所述供给部、所述温度调整部(320)和所述排出部的控制部(340)。

技术领域

本发明涉及用于准备在单晶X射线构造解析中使用的解析试样的装置以及方法，特别涉及适合使试样吸藏于晶体海绵的单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法。

背景技术

在新的设备、材料的研究开发中，日常地进行材料的合成、材料的评价、基于此的接下来的研究方针的决定。在使用了用于在短期内进行材料开发的X射线衍射的物质的构造解析中，为了高效地探索实现目标材料的功能/物性的物质构造，需要以能够有效地进行构造解析的物质的构造解析为中心的物质构造的探索方法和在其中使用的X射线构造解析。

但是，基于利用该方法得到的结果进行构造解析，必须是X射线的专家。因此，要求即使不是X射线的专家也能够进行构造解析的X射线构造解析系统。其中，特别是如以下的专利文献1中也已知的那样，单晶X射线构造解析作为能够得到准确且精度高的分子的立体构造的方法而受到关注。

另一方面，在该单晶X射线构造解析中，存在必须使试样结晶化而准备单晶的大的制约。然而，如在以下的非专利文献1、2以及专利文献2中也已知的那样，通过开发被称为“晶体海绵”的材料(例如，直径0.5nm～1nm的细孔无数地打开的细孔性络合物结晶)，也包括无法确保不结晶化的液体状化合物、无法确保足以进行结晶化的量的试样等，能够广泛地应用单晶X射线构造解析。

在单晶X射线构造解析的领域中，在利用单晶X射线构造解析装置对单晶样本进行解析而求出单晶的结晶构造的情况下，难以制作分析对象的单晶样本，进而，为了从利用单晶X射线构造解析装置对该分析对象的单晶样本进行解析而得到的数据求出单晶的结晶构造，需要经验和直觉等熟练度，仅有极其有限的人才能够进行操作。

另一方面，近年来，单晶X射线构造解析装置的技术开发不断发展，只要获得单晶样本，则即使是结晶构造解析技术不熟练的人，也能够利用单晶X射线构造解析装置解析单晶样本，能够比较容易地求出单晶样本的结晶构造。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2007-3394号公报

专利文献2：JP再公表专利WO2016/017770号公报

非专利文献

非专利文献1：Makoto Fujita；X-ray analysis on the nanogram to microgramscale using porous complexes；Nature 495，461-466；28March 2013

非专利文献2：Hoshino et al.(2016)，The updated crystalline spongemethod IUCrJ，3，139-151

发明内容

发明要解决的课题

在现有技术中，如非专利文献1所记载的那样，形成有多个微细的孔的极微小且脆弱(fragile)的晶体海绵，在该晶体海绵的微细的孔的内部吸藏试样，利用单晶X射线构造解析装置对其进行解析，由此能够比较容易地求出单晶的结晶构造。