[发明专利]分析装置有效

专利信息
申请号: 201980094326.6 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN113678581B 公开(公告)日: 2023-02-10
发明(设计)人: 伊藤秀俊;冈田好司 申请(专利权)人: 株式会社富士
主分类号: H05K13/08 分类号: H05K13/08;H05K13/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 杨青;安翔
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 分析 装置
【权利要求书】:

1.一种分析装置,被用于元件安装装置,用于分析所述元件安装装置的安装状态,所述元件安装装置具备:拾取部件,通过移动装置而相对于基板相对地移动;以及接触检测传感器,检测被该拾取部件拾取的元件是否与所述基板接触,其中,

所述分析装置具备:

存储装置,将与在所述元件被安装于所述基板时由所述接触检测传感器获得的检测结果相关的检测结果数据和获得该接触检测传感器的检测结果时的安装条件建立关联并存储多个;以及

输出装置,按照所述安装条件中的至少两个条件来分别对存储于所述存储装置的多个检测结果数据进行累计并输出,

所述安装条件包含与所安装的所述元件的安装位置相关的信息。

2.根据权利要求1所述的分析装置,其中,

所述安装条件还包含与供给了所安装的所述元件的元件供给装置相关的信息、与所安装的所述元件的种类相关的信息以及所安装的所述元件的参照信息中的至少一个。

3.根据权利要求1或2所述的分析装置,其中,

所述元件安装装置具备头,所述头具有分别保持所述拾取部件的多个支架,

所述安装条件包含与在所述元件的安装中使用的支架相关的信息。

4.根据权利要求3所述的分析装置,其中,

所述头是旋转头,具有:旋转体,在同一圆周上排列有所述多个支架;旋转装置,以使所述多个支架沿周向回转的方式使所述旋转体旋转;第一升降装置,使所述多个支架中的位于第一回转位置的支架升降;以及第二升降装置,使所述多个支架中的位于与所述第一回转位置不同的第二回转位置的支架升降,

所述安装条件包含与在所述元件的安装中使用了的升降装置相关的信息以及与在所述元件的拾取中使用了的升降装置相关的信息中的至少一个。

5.一种分析装置,被用于具备多个元件安装装置的元件安装系统,用于分析各元件安装装置的安装状态,所述多个元件安装装置分别具有:拾取部件,通过移动装置而相对于基板相对地移动;以及接触检测传感器,检测被该拾取部件拾取的元件是否与所述基板接触,其中,

所述分析装置具备:

存储装置,对应每个所述元件安装装置将与在所述元件被安装于所述基板时由所述接触检测传感器获得的检测结果相关的检测结果数据和获得该接触检测传感器的检测结果时的安装条件建立关联并各存储多个;以及

输出装置,对应每个所述元件安装装置对存储于所述存储装置的多个检测结果数据进行累计并输出,

所述安装条件包含与所安装的所述元件的安装位置相关的信息。

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