[发明专利]光距离测定装置有效
申请号: | 201980095001.X | 申请日: | 2019-04-05 |
公开(公告)号: | CN113677951B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 山内隆典;后藤广树;吉田刚;斧原圣史;铃木巨生 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01B9/02001 | 分类号: | G01B9/02001;G01B9/02002;G01B9/02015;G01B11/02;G01B11/00;G01B11/14 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;孙明浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 距离 测定 装置 | ||
1.一种光距离测定装置,其特征在于,
所述光距离测定装置具备:
发送部,其具有分支部、测定光分支部、参照光分支部、第1光学系统及第2光学系统,其中,该分支部对输入的作为连续波的激光进行分支,将分支后的所述激光作为测定光及参照光输出,该测定光分支部对所述分支部输出的所述测定光进行分支,将分支后的所述测定光作为第1测定光及第2测定光输出,该参照光分支部对所述分支部输出的所述参照光进行分支,将分支后的所述参照光作为第1参照光及第2参照光输出,该第1光学系统具有第1瑞利长度,用于向对象物照射所述第1测定光,该第2光学系统具有与所述第1瑞利长度不同的第2瑞利长度、且具有与所述第1光学系统具有的焦距相等的焦距,用于向所述对象物照射所述第2测定光;
第1接收部,其接受所述第1参照光、和所述第1测定光在所述对象物反射后的光即第1反射光,输出表示所述第1参照光和所述第1反射光的第1接收信号;
第2接收部,其接受所述第2参照光、和所述第2测定光在所述对象物反射后的光即第2反射光,输出表示所述第2参照光和所述第2反射光的第2接收信号;
频率测定部,其基于所述第1接收信号来测定所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度,输出表示测定出的所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度的第1信号信息,并且,基于所述第2接收信号来测定所述第2参照光及所述第2反射光的每个频率成分的强度,输出表示测定出的所述第2参照光及所述第2反射光的每个频率成分的强度的第2信号信息;以及
距离计算部,其基于所述频率测定部输出的所述第1信号信息或所述第2信号信息,计算从所述发送部到所述对象物的距离,输出表示计算出的从所述发送部到所述对象物的距离的距离信息。
2.根据权利要求1所述的光距离测定装置,其特征在于,
所述频率测定部基于将所述第1接收信号与所述第2接收信号合成后的信号,测定所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度,输出表示测定出的所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度的第1信号信息。
3.根据权利要求1所述的光距离测定装置,其特征在于,
所述测定光分支部通过对所述分支部输出的所述测定光进行偏振分离而将其分支,将分支后的所述测定光作为第1偏振测定光和第2偏振测定光而输出,其中,该第1偏振测定光是所述第1测定光,该第2偏振测定光是所述第2测定光,
所述参照光分支部通过对所述分支部输出的所述参照光进行偏振分离而将其分支,将分支后的所述参照光作为第1偏振参照光和第2偏振参照光而输出,其中,该第1偏振参照光是所述第1参照光,该第2偏振参照光是所述第2参照光。
4.根据权利要求3所述的光距离测定装置,其特征在于,
所述频率测定部通过偏振分集方式,基于所述第1接收信号或所述第2接收信号来测定所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度,输出表示测定出的所述第1参照光及所述第1反射光的每个频率成分的强度的第1信号信息。
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