[发明专利]光距离测定装置

说明书

光距离测定装置(100、100a)具备：分支部(103)，其对激光进行分支，作为测定光及参照光输出；测定光分支部(104)，其对测定光进行分支，作为第1测定光及第2测定光输出；参照光分支部(105)，其对参照光进行分支，作为第1参照光及第2参照光输出；第1光学系统(131)，其具有第1瑞利长度，用于向对象物(20)照射第1测定光；第2光学系统(132)，其具有与第1瑞利长度不同的第2瑞利长度，用于向对象物20照射第2测定光；第1接收部(141)，其接受第1参照光、和第1测定光在对象物20反射后的光即第1反射光，输出表示第1参照光和第1反射光的第1接收信号；以及第2接收部(142)，其接受第2参照光、和第2测定光在对象物20反射后的光即第2反射光，输出表示第2参照光和第2反射光的第2接收信号。

技术领域

本发明涉及光距离测定装置。

背景技术

具有如下的光测距方法：使用由光源出射的光，通过脉冲传播方式、三角测距方式、共焦点方式、白色干涉方式或波长扫描干涉方式等方式，来测定从光源到对象物的距离。这些方式中的白色干涉方式或波长扫描干涉方式等是使用光的干涉现象的干涉方式。

干涉方式为，将由光源出射的光分支为测定光和参照光，使测定光在对象物上反射后的光即反射光与参照光发生干涉，基于反射光和参照光相互增强的条件，来测定从光源到对象物的距离。

例如，谱域方式等白色干涉方式使用出射宽频带的光的光源。白色干涉方式将由光源出射的宽频带的光分支为测定光与参照光。白色干涉方式通过分光器在空间上进行光谱分离，基于光谱分离后的反射光与光谱分离后的参照光的干涉条件，测定从光源到对象物的距离。

此外，例如，波长扫描干涉方式对从光源出射的光进行波长扫描。波长扫描干涉方式将波长扫描后的光分支为测定光与参照光。波长扫描干涉方式使反射光与将波长扫描后的光分支而得到的参照光发生干涉，其中，该反射光是将波长扫描后的光分支而得到的测定光在对象物上反射后的光。波长扫描干涉方式通过测定反射光的频率和参照光的频率，来测定从光源到对象物的距离。

例如，在非专利文献1中，公开了一种将基于波长扫描干涉方式的光距离测定装置应用于医疗用途的波长扫描型光干涉断层计(SS-OCT：Swept Source-Optical CoherenceTomography)。

现有技术文献

非专利文献

非专利文献1：春名正光，“光コヒーレンストモグラフィ―(OCT)”，[online]，平成22年，MEDICAL PHOTONICS，[平成31年2月4日检索]，因特网〈URL：http://www.medicalphotonics.jp/pdf/mp0001/0001_029.pdf〉

发明内容

发明要解决的问题

但是，以往的光距离测定装置存在如下的问题：从能够通过一次测定而测定的光源到对象物的距离的范围被限定在用于向对象物照射测定光的光学系统所具有的焦距的范围。

本发明用于解决上述问题，其目的在于，提供一种能够扩大距对象物的距离测定的范围且能够高精度地测定该距离的光距离测定装置。

用于解决问题的手段