[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202010004510.1 申请日: 2020-01-03
公开(公告)号: CN112201290A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 柳平康輔;坪内洋 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04;G11C16/08;G11C16/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

位线;

源极线;

存储单元,连接于所述位线与所述源极线之间;

字线,连接于所述存储单元的栅极;以及

控制器,执行读出动作;

在所述读出动作中,所述控制器对所述字线施加第1读出电压及与所述第1读出电压不同的第2读出电压,在施加所述第1读出电压的第1时刻与施加所述第2读出电压的第2时刻分别读出数据,

所述控制器在所述第1时刻与所述第2时刻,分别对所述源极线施加第1电压,在对所述字线施加所述第1读出电压期间且在所述第1时刻之前对所述源极线施加高于所述第1电压的第2电压,在对所述字线施加所述第2读出电压期间且在所述第2时刻之前对所述源极线施加低于所述第1电压的第3电压。

2.一种半导体存储装置,具备:

位线;

源极线;

存储单元,连接于所述位线与所述源极线之间;

字线,连接于所述存储单元的栅极;以及

控制器,执行读出动作;且

在所述读出动作中,所述控制器对所述字线施加第1读出电压及与所述第1读出电压不同的第2读出电压,在施加所述第1读出电压的第1时刻与施加所述第2读出电压的第2时刻分别读出数据,

所述控制器在所述第1时刻与所述第2时刻,分别对所述源极线施加第1电压,在对所述字线施加所述第1读出电压期间且在所述第1时刻之前对所述源极线施加与所述第1电压不同的第2电压,在对所述字线施加所述第2读出电压期间且在所述第2时刻之前对所述源极线施加与所述第1电压及所述第2电压分别不同的第3电压。

3.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其中

在所述读出动作中,在对所述字线施加所述第1读出电压期间,对所述源极线施加所述第2电压的时间为第1时间,在对所述字线施加所述第2读出电压期间,对所述源极线施加所述第3电压的时间为第2时间,所述第1时间与所述第2时间不同。

4.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其中

所述第1读出电压高于所述第2读出电压。

5.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其中

在所述读出动作中,所述控制器基于施加所述第1读出电压时的读出电压的转变量对所述源极线施加所述第2电压,基于施加所述第2读出电压时的读出电压的转变量对所述源极线施加所述第3电压。

6.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其中

在所述读出动作中,所述控制器在开始施加所述第1读出电压时,暂时施加高于所述第1读出电压的电压,在开始施加所述第2读出电压时,暂时施加高于所述第2读出电压的电压。

7.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,其

还具备感测放大器,所述感测放大器包含一端被供给电源电压的第1晶体管、及一端连接于所述第1晶体管的另一端且另一端连接于所述位线的第2晶体管,

在所述读出动作中,所述控制器在所述第1时刻与所述第2时刻,分别对所述第2晶体管施加第4电压,在对所述源极线施加所述第2电压期间对所述第2晶体管施加高于所述第4电压的第5电压,在对所述源极线施加所述第3电压期间对所述第2晶体管施加低于所述第4电压的第6电压。

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