[发明专利]非易失性半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202010013640.1 申请日: 2020-01-07
公开(公告)号: CN112447231A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 渡邉稔史;安彦尚文 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C16/08 分类号: G11C16/08;G11C16/10;G11C16/24;G11C16/26;G11C5/14
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

存储单元;

字线,连接于所述存储单元;

源极线,连接于所述存储单元;

位线,连接于所述存储单元;

感测放大器,连接于所述存储单元;以及

控制电路;

在所述存储单元的读出动作中,

所述控制电路构成为,

对所述字线施加第1电压,在施加了所述第1电压之后,施加大于所述第1电压的第2电压,在施加了所述第2电压之后,施加大于所述第1电压且小于所述第2电压的第3电压,

相应于对所述字线施加所述第2电压的时序而对所述源极线施加第4电压,在施加了所述第4电压之后,施加小于所述第4电压的第5电压,在施加了所述第5电压之后,施加大于所述第5电压的第6电压,

相应于对所述源极线施加所述第4电压的时序而对所述感测放大器施加第7电压。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

以如下方式进行控制,根据对所述字线施加所述第2电压的时序,将控制施加至所述位线的电压的第1控制信号从低电平变化为高电平,

随着所述第1控制信号从低电平变化为高电平,调整所述第4电压与所述第5电压的电压差,

对所述源极线施加调整了所述第4电压与所述第5电压的差的电压。

3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

具有第1控制信号,相应于对所述字线施加所述第2电压的时序,将控制施加至所述位线的电压的第1控制信号从低电平变化为高电平,维持高电平,

在所述第1控制信号维持高电平的期间,对所述源极线施加所述第5电压。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

具有第1控制信号,相应于对所述字线施加所述第2电压的时序,将控制施加至所述位线的电压的所述第1控制信号从低电平变化为高电平,维持高电平,在维持高电平之后,从高电平变化为低电平,

随着所述第1控制信号从高电平变化为低电平,对所述源极线施加的电压从所述第4电压变成所述第5电压。

5.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

相应于对所述源极线施加所述第5电压的时序,对所述感测放大器施加大于所述第7电压的第8电压,

在对所述源极线施加了所述第5电压之后,相应于施加所述第4电压的时序,对所述感测放大器施加大于所述第7电压且小于所述第8电压的第9电压,

利用所述第5电压与所述第4电压的电压差、以及所述第8电压与所述第9电压的电压差,控制施加至所述位线的电压。

6.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

以如下方式进行控制,相应于对所述字线施加所述第2电压的时序,将控制施加至所述位线的电压的第1控制信号从低电平变化为高电平,

随着所述第1控制信号从低电平变化为高电平,调整所述第4电压与所述第5电压的电压差,

相应于对所述源极线施加所述第5电压的时序,对所述感测放大器施加大于所述第7电压的第8电压,

在对所述源极线施加了所述第5电压之后,相应于施加所述第4电压的时序,对所述感测放大器施加大于所述第7电压且小于所述第8电压的第9电压,

利用所述第5电压与所述第4电压的电压差、以及所述第8电压与所述第9电压的电压差,控制施加至所述位线的电压。

7.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述控制电路

具有第1控制信号,相应于对所述字线施加所述第2电压的时序,将控制施加至所述位线的电压的第1控制信号从低电平变化为高电平,维持高电平,

在所述第1控制信号维持高电平的期间,对所述源极线施加所述第5电压,

在所述第1控制信号维持高电平的期间,对所述感测放大器施加大于所述第7电压的第8电压,

通过使所述第1控制信号维持高电平的时间变化,利用所述第5电压与所述第4电压的电压差以及所述第8电压,控制施加至所述位线的电压。

8.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中所述第4电压与所述第6电压为大致相同电压。

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