[发明专利]特征映射缩放的精度补偿方法、系统及存储介质有效
申请号: | 202010017787.8 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111200716B | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 珠海亿智电子科技有限公司 |
主分类号: | H04N7/01 | 分类号: | H04N7/01 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 张龙哺 |
地址: | 519080 广东省珠海市高新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特征 映射 缩放 精度 补偿 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种特征映射缩放的精度补偿方法,包括以下步骤:
获取原始特征和目标特征的映射数据,其中所述映射数据至少包括位宽、通道数、特征水平像素个数以及特征垂直像素个数;
根据所述原始特征和所述目标特征各自的特征水平像素个数以及特征垂直像素个数,在通道数所指示的各个通道上基于位宽分别计算所述目标特征在水平方向和垂直方向上的插值坐标,包括:
根据所述原始特征映射和所述目标特征各自的特征水平像素个数以及特征垂直像素个数,分别计算所述目标特征在水平方向上的水平缩放比例因子和在垂直方向上的垂直缩放比例因子;
基于所述水平缩放比例因子和所述垂直缩放比例因子,计算所述原始特征的坐标确定所述目标特征在水平方向和垂直方向上的双线性插值坐标;
根据所述原始特征映射和所述目标特征各自的插值坐标,在通道数所指示的各个通道上基于位宽计算所述原始特征在目标特征的各个插值坐标处的插值权重,包括:
分别在水平方向和垂直方向上初始化水平累计相位和垂直累计相位;以及
通过迭代更新水平累计相位和垂直累计相位,分别计算各个目标特征在水平方向和垂直方向上的插值坐标和插值权重;
根据原始特征在各个位置的像素值和在各个插值坐标处的插值权重,确定目标特征映射;
其中,所述水平缩放比例因子、所述垂直缩放比例因子和双线性插值坐标基于输入位宽而移位计算得到;以及
其中,首列的水平累计相位和首行的垂直累计相位初始化为零,各所述水平累计相位基于前一列的水平累计相位、相同的水平缩放比例因子和相同的水平补偿步进更新,而各所述垂直累计相位基于前一行的垂直累计相位、相同的垂直缩放比例因子和相同的垂直补偿步进更新,使得原始特征和目标特征的首行、首列、尾行和尾列的位置分别对齐;
其中,水平补偿步进W_COMP_STEP = (W – 1) * (1 FRACBIT) – (WO – 1) *WFAC,而垂直补偿步进H_COMP_STEP = (H – 1) * (1 FRACBIT) – (HO – 1) * HFAC,其中,W为特征水平像素个数,H为特征垂直像素个数,FRACBIT为定点位宽,(WO – 1)是尾列坐标,(HO – 1)是尾行坐标,WFAC是水平缩放比例因子,且HFAC是垂直缩放比例因子。
2.根据权利要求1所述的精度补偿方法,其特征在于,当累计的垂直补偿值大于补偿阈值时,垂直累计相位加一,同时截断垂直补偿值;而当累计的水平补偿值大于补偿阈值时,水平累计相位加一,同时截断水平补偿值。
3.根据权利要求1和2中任一所述的精度补偿方法,其特征在于,各个通道的插值坐标和插值权重是通过共用相同的插值电路并行计算。
4.根据权利要求2所述的精度补偿方法,其特征在于,所述水平累计相位和所述垂直累计相位通过相位累加电路计算,并存储在相位寄存器存中;所述水平补偿步进和所述垂直补偿步进通过相位补偿电路计算,并返回输出至相位累加电路。
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