[发明专利]一种X荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法

权利要求书

1.一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）对试样加工，制成满足荧光仪的测试样品；

（2）使用碳硫仪、光谱仪和化学法对试样定值；

（3）确定仪器参数，设定各元素的分析条件；

（4）采用国家标准样品和自产试样绘制校准曲线；

（5）消除干扰，修正校准曲线；

（6）根据修正后校准曲线测定样品。

2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）试样经20-60目砂纸粗磨，再经80-120目砂纸细磨，试样表面无污染、无变色，满足荧光仪分析标准。

3.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）将试样制成无沙粒、无金属屑杂物、检测面无气孔和无砂眼缺陷的柱状样品。

4.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（3）试样检测前进行设备点检维护，检查电子柜温度35±0.5℃，内水冷的电导率0-20*10^-8Ω^-1，内部循环水流量大于3.5L/min、内部循环水压力0.3±0.05MPa，光管管压30-50Kv、管流50-90mA，抽真空时间小于1min。

5.根据权利要求4所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，管压和管流乘积不超过光管的最大功率。

6.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（5）利用步骤（2）碳硫仪、光谱仪和化学法对试样定值，对步骤（4）绘制校准曲线进行修正。

7.根据权利要求6所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，修正方法包括以下步骤：①将不在线的点进行再次定值，确定样品的准确值；②观察样品检测面是否存在其它缺陷；③重新磨制样品检测面；④排除样品自身原因造成的不在线；⑤确定取舍；⑥修正校正曲线。

8.根据权利要求1-7任一项所述的一种X射线荧光光谱仪监控直读光谱仪的检测方法，其特征在于，步骤（1）所述的试样为生铁球拍样品。