[发明专利]半导体装置及半导体电路有效

专利信息
申请号: 202010020268.7 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN112542512B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 岩鍜治阳子;末代知子;河村圭子 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/423
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 电路
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

半导体层,具有平行于第1方向及与上述第1方向正交的第2方向的第1面及与上述第1面对置的第2面,该半导体层具备:

第1导电型的第1半导体区域;

第2导电型的第2半导体区域,设置于上述第1半导体区域与上述第1面之间;

第1导电型的第3半导体区域,设置于上述第2半导体区域与上述第1面之间;

第2导电型的第4半导体区域,设置于上述第3半导体区域与上述第1面之间;

多个第1沟槽,在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上反复配置,距上述第2面的距离小于从上述第2面到上述第3半导体区域为止的距离;和

多个第2沟槽,在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上反复配置,距上述第2面的距离小于从上述第2面到上述第3半导体区域为止的距离;

第1栅极电极,设置于上述第1沟槽中;

第1栅极绝缘膜,设置于上述第1栅极电极与上述第3半导体区域之间及上述第1栅极电极与上述第4半导体区域之间,与上述第4半导体区域接触;

第2栅极电极,设置于上述第2沟槽中;

第2栅极绝缘膜,设置于上述第2栅极电极与上述第3半导体区域之间;

第1电极,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第4半导体区域电连接;

第2电极,设置于上述半导体层的上述第2面侧,与上述第1半导体区域电连接;

第1栅极电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,被施加第1栅极电压;

第2栅极电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,被施加第2栅极电压;

第1布线,将上述第1栅极电极焊盘与上述第1栅极电极电连接;以及

第2布线,将上述第2栅极电极焊盘与上述第2栅极电极电连接,

上述半导体层具有第1连接沟槽,

多个上述第1沟槽内的相邻的2个上述第1沟槽在各自的端部通过上述第1连接沟槽而连接,

多个上述第2沟槽内的至少1个上述第2沟槽设置于上述相邻的2个上述第1沟槽间,

上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极,在上述相邻的2个上述第1沟槽间的第1位置,与上述第2布线电连接。

2.如权利要求1所述的半导体装置,

上述第1位置是上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极的上述第1方向的端部。

3.如权利要求2所述的半导体装置,

上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极在与上述第1方向相反的方向的端部即第2位置处与上述第2布线电连接。

4.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

上述第1位置是上述第2布线与上述第2沟槽交叉的位置。

5.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

上述第1栅极电极在上述第1方向的端部的第3位置与上述第1布线电连接。

6.如权利要求5所述的半导体装置,

上述第1栅极电极在与上述第1方向相反的方向的端部的第4位置与上述第1布线电连接。

7.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

上述第2布线与上述第2栅极电极,使用与上述第2布线不同的材料的导电层而连接。

8.如权利要求7所述的半导体装置,

上述导电层的上述第2方向的宽度小于上述第2栅极电极的上述第2方向的宽度。

9.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,

上述半导体层具有第2连接沟槽,

上述至少1个上述第2沟槽与和上述至少1个上述第2沟槽相邻的上述第2沟槽,在各自的端部通过上述第2连接沟槽而连接。

10.如权利要求9所述的半导体装置,

上述第2连接沟槽被上述第2半导体区域夹着。

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