[发明专利]半导体装置及半导体电路有效
申请号: | 202010020268.7 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN112542512B | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 岩鍜治阳子;末代知子;河村圭子 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/423 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘英华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 电路 | ||
1.一种半导体装置,具备:
半导体层,具有平行于第1方向及与上述第1方向正交的第2方向的第1面及与上述第1面对置的第2面,该半导体层具备:
第1导电型的第1半导体区域;
第2导电型的第2半导体区域,设置于上述第1半导体区域与上述第1面之间;
第1导电型的第3半导体区域,设置于上述第2半导体区域与上述第1面之间;
第2导电型的第4半导体区域,设置于上述第3半导体区域与上述第1面之间;
多个第1沟槽,在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上反复配置,距上述第2面的距离小于从上述第2面到上述第3半导体区域为止的距离;和
多个第2沟槽,在上述第1方向上延伸,在上述第2方向上反复配置,距上述第2面的距离小于从上述第2面到上述第3半导体区域为止的距离;
第1栅极电极,设置于上述第1沟槽中;
第1栅极绝缘膜,设置于上述第1栅极电极与上述第3半导体区域之间及上述第1栅极电极与上述第4半导体区域之间,与上述第4半导体区域接触;
第2栅极电极,设置于上述第2沟槽中;
第2栅极绝缘膜,设置于上述第2栅极电极与上述第3半导体区域之间;
第1电极,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第4半导体区域电连接;
第2电极,设置于上述半导体层的上述第2面侧,与上述第1半导体区域电连接;
第1栅极电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,被施加第1栅极电压;
第2栅极电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,被施加第2栅极电压;
第1布线,将上述第1栅极电极焊盘与上述第1栅极电极电连接;以及
第2布线,将上述第2栅极电极焊盘与上述第2栅极电极电连接,
上述半导体层具有第1连接沟槽,
多个上述第1沟槽内的相邻的2个上述第1沟槽在各自的端部通过上述第1连接沟槽而连接,
多个上述第2沟槽内的至少1个上述第2沟槽设置于上述相邻的2个上述第1沟槽间,
上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极,在上述相邻的2个上述第1沟槽间的第1位置,与上述第2布线电连接。
2.如权利要求1所述的半导体装置,
上述第1位置是上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极的上述第1方向的端部。
3.如权利要求2所述的半导体装置,
上述至少1个上述第2沟槽中的上述第2栅极电极在与上述第1方向相反的方向的端部即第2位置处与上述第2布线电连接。
4.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,
上述第1位置是上述第2布线与上述第2沟槽交叉的位置。
5.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,
上述第1栅极电极在上述第1方向的端部的第3位置与上述第1布线电连接。
6.如权利要求5所述的半导体装置,
上述第1栅极电极在与上述第1方向相反的方向的端部的第4位置与上述第1布线电连接。
7.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,
上述第2布线与上述第2栅极电极,使用与上述第2布线不同的材料的导电层而连接。
8.如权利要求7所述的半导体装置,
上述导电层的上述第2方向的宽度小于上述第2栅极电极的上述第2方向的宽度。
9.如权利要求1至3中任一项所述的半导体装置,
上述半导体层具有第2连接沟槽,
上述至少1个上述第2沟槽与和上述至少1个上述第2沟槽相邻的上述第2沟槽,在各自的端部通过上述第2连接沟槽而连接。
10.如权利要求9所述的半导体装置,
上述第2连接沟槽被上述第2半导体区域夹着。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社,未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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