[发明专利]一种实现eGaN HEMT并联动态均流的耦合电感栅极驱动电路有效

专利信息
申请号: 202010020445.1 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN111355361B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 汪文璐;秦海鸿;彭子和;修强;龚佳燕;刘奥;柏松 申请(专利权)人: 南京航空航天大学;中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H02M1/088 分类号: H02M1/088;H03K17/687
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 吴旭
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 实现 egan hemt 并联 动态 耦合 电感 栅极 驱动 电路
【说明书】:

发明公开了一种实现eGaN HEMT并联动态均流的耦合电感栅极驱动电路,包括连接在正向供电电源与负向供电电源之间的电压图腾柱结构单元,与电压图腾柱结构单元连接的耦合电感驱动单元,耦合电感驱动单元包括第一驱动电阻、第一二极管、第二驱动电阻、第二二极管以及第一耦合电感和第二耦合电感。耦合电感驱动电路通过第一耦合电感副边连接到第二功率管的栅极,通过第二耦合电感副边连接到第一功率管的栅极,第一功率管和第二功率管并联。此种驱动电路通过耦合电感给栅极提供补偿信号,在满足eGaN HEMT高速开关的同时实现并联动态均流。

技术领域

本发明属于电力电子技术与电工技术领域,涉及一种适用于eGaN HEMT的驱动电路,特别涉及一种实现eGaN HEMT并联动态均流的耦合电感栅极驱动电路。

背景技术

氮化镓(GaN)器件作为新型宽禁带半导体代表性器件之一,比Si器件具有更低的导通电阻、更快的开关速度和更高的结温工作能力等器件优势,用其代替Si器件作为制作变换器的功率器件有望显著提高变换器的最高工作频率、效率,降低其体积、重量。

现有商用GaN器件的电流定额相对较低,不能满足于较大容量系统的需求,因此可通过并联的方式来扩大其工作电流。实际使用中,由于器件参数分散性和电路参数不对称性等因素,会造成并联器件出现不均流问题。

目前已有文献中针对GaN基并联电路应用中的并联不均流问题,提出了筛选并联器件、对称布局设计、阻抗平衡、栅极电阻补偿等方法,但这些方法均有一定的局限性,其设计部分或完全依赖对并联器件的筛选和布局设计,电路不具有主动控制电流不平衡的功能,实际应用价值受限。

发明内容

发明目的:针对上述现有技术,提出一种实现eGaN HEMT并联动态均流的耦合电感栅极驱动电路,在充分发挥eGaN HEMT高速开关性能优势的同时实现eGaN HEMT并联电路的动态均流,实现高可靠性驱动并联eGaN HEMT。

技术方案:一种实现eGaN HEMT并联动态均流的耦合电感栅极驱动电路,连接到eGaN HEMT功率电路,所述eGaN HEMT功率电路包括并联的第一功率管和第二功率管,所述耦合电感栅极驱动电路包括连接在正向供电电源与负向供电电源之间的电压图腾柱结构单元,与电压图腾柱结构单元连接的耦合电感驱动单元;所述耦合电感驱动单元包括第一驱动电阻、第一二极管、第二驱动电阻、第二二极管以及第一耦合电感和第二耦合电感,所述耦合电感驱动单元通过第一耦合电感副边连接到第二功率管的栅极,通过第二耦合电感副边连接到第一功率管的栅极。

进一步的,所述电压图腾柱结构单元包括第一开关管和第二开关管,其中,第一开关管的漏极连接正向供电电源,第一开关管的源极连接第二开关管的漏极,第二开关管的源极连接负向供电电源。

进一步的,所述耦合电感驱动单元中,第一驱动电阻的一端和第二二极管的阴极连接在第一开关管、第二开关管之间,第一驱动电阻的另一端连接第一二极管的阳极,第二二极管的阳极连接第二驱动电阻的一端,第二驱动电阻的另一端和第一二极管的阴极连接所述第一耦合电感和第二耦合电感的副边非同名端;第一耦合电感副边同名端与第二功率管的栅极相连,第二耦合电感副边同名端连接第一功率管的栅极,第一耦合电感原边同名端与第一功率管的源极相连,第一耦合电感原边非同名端接地;第二耦合电感原边同名端连接第二功率管的源极,第二耦合电感原边非同名端接地。

有益效果:本发明采用以上技术方案与现有技术相比,具有以下技术效果:

(1)在动态不均衡电流出现时,电路实时动态调节功率管开关速度,使得并联器件的电流趋于均衡;

(2)并联器件共同承担开关损耗,能够维持器件正常工作寿命;

(3)本发明能够提高系统效率。

附图说明

图1是本发明中电压图腾柱结构单元的电路图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学;中国电子科技集团公司第五十五研究所,未经南京航空航天大学;中国电子科技集团公司第五十五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010020445.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top