[发明专利]金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法

说明书

本发明涉及一种金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法，该金属微粒陷阱捕捉试验装置，包括：模拟筒体，其内壁上设有试验位，用于支撑放置具备待测微粒捕捉器的支柱绝缘子组件；导电杆，用于由处于试验位的支柱绝缘子组件支撑装配在所述模拟筒体中；套管总装，与所述模拟筒体装配以向所述导电杆施加电压；微粒放置孔，设置于所述模拟筒体的筒壁上，位于所述试验位的旁侧，用于向模拟筒体中放置金属微粒；孔盖，对应所述微粒放置孔布置，孔盖可开合的装配于所述模拟筒体的筒壁上，以用于封盖所述微粒放置孔。通过该试验装置对微粒捕捉器进行试验，能够对微粒捕捉器的有效性进行验证，优化现场老练试验的加压程序，为GIL的可靠运行提供重要的试验依据。

技术领域

本发明涉及一种金属微粒陷阱捕捉试验装置及方法。

背景技术

GIL/GIS在生产、运输、组装、运行等阶段，由于滑动部件之间的摩擦碰撞、设备振动以及热伸缩摩擦等不可控制因素的存在，都会不可避免的产生金属微粒污染物，在库伦力、电场梯度力、重力、气体黏滞力等作用下，金属微粒会在GIL/GIS内部运动甚至粘附在绝缘子表面，引起气体间隙放电或绝缘子沿面闪络，而造成设备耐受电压的显著降低。

目前，针对金属微粒的运动抑制措施主要是在GIL/GIS内部设置微粒陷阱。如授权公告号为CN205384910U的中国专利公开了一种气体绝缘母线用三支柱绝缘子，包括呈管状的基体和呈筒状的微粒捕捉器，基体外周壁上沿基体周向间隔设有三个径向延伸的绝缘支柱，微粒捕捉器连接在绝缘支柱上，微粒捕捉器在底部区域设有圆孔，圆孔可以收集摩擦产生的金属微粒等污染物。

上述的微粒捕捉器虽然能够捕捉一定量的金属微粒，但由于GIL/GIS自身结构较为复杂，直接在GIL/GIS上进行微粒捕捉试验，不仅操作不方便，而且还会对GIL/GIS内部的支柱绝缘子造成污染，影响GIL/GIS的正常工作。

发明内容

本发明的目的在于提供一种金属微粒陷阱捕捉试验装置，以解决现有技术中在GIL/GIS直接上进行微粒捕捉试验，会对GIL/GIS内部的支柱绝缘子造成污染，影响GIL/GIS的正常工作的技术问题。本发明的目的还在于提供一种金属微粒陷阱捕捉试验方法，以解决现有技术中在GIL/GIS直接上进行微粒捕捉试验，会对GIL/GIS内部的支柱绝缘子造成污染，影响GIL/GIS的正常工作的技术问题。

为实现上述目的，本发明金属微粒陷阱捕捉试验装置的技术方案是：

金属微粒陷阱捕捉试验装置，包括：模拟筒体，其内壁上设有试验位，用于支撑放置具备待测微粒捕捉器的支柱绝缘子组件；导电杆，用于由处于试验位的支柱绝缘子组件支撑装配在所述模拟筒体中；套管总装，与所述模拟筒体装配以向所述导电杆施加电压；微粒放置孔，设置于所述模拟筒体的筒壁上，位于所述试验位的旁侧，用于向模拟筒体中放置金属微粒；孔盖，对应所述微粒放置孔布置，孔盖可开合的装配于所述模拟筒体的筒壁上，以用于封盖所述微粒放置孔。

有益效果是：在试验时，将具备待测微粒捕捉器的支柱绝缘子组件支撑放置在筒体内壁的试验位处，打开孔盖，通过微粒放置孔向模拟筒体的试验位旁侧放置金属微粒，之后关闭孔盖，向模拟筒体和套管总装内充入气体绝缘介质。气体绝缘介质充入完成后，通过套管总装向导电杆施加一定幅值的电压，并使电压幅值大于金属微粒的起举电压，持续一段时间后撤去电压，观察微粒捕捉器对金属微粒的捕捉效果。通过该试验装置对微粒捕捉器进行试验，能够对微粒捕捉器的有效性进行验证，优化现场老练试验的加压程序，为气体绝缘输电线路可靠运行提供重要的试验依据，具有工程实践指导意义。

进一步的，所述试验位沿所述模拟筒体的轴向间隔设置有至少两个。

有益效果是：通过设置至少两个试验位，可以同时对至少两个微粒捕捉器进行试验，有利于对比各微粒捕捉器的捕捉效果，进而直观的得出不同结构的微粒捕捉器的捕捉性能。

进一步的，所述孔盖为观察窗。