[发明专利]目标检测方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010033556.6 申请日: 2020-01-13
公开(公告)号: CN113111692A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 彭强 申请(专利权)人: 北京地平线机器人技术研发有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62;G06N20/00
代理公司: 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 代理人: 毛丽琴
地址: 100080 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 目标 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种目标检测方法,包括:

获取车辆上的多个目标检测设备中的每个目标检测设备分别采集的点云帧;

将所述每个目标检测设备分别对应的点云帧输入预先训练的点云检测模型,得到所述每个目标检测设备分别对应的用于表征目标物体的位置的第一检测框;

确定每个所述第一检测框对应的参考点;

对所述参考点进行聚类,得到至少一个簇;

对于所述至少一个簇中的每个簇,响应于确定该簇中的参考点的数量大于或等于预设数量,基于该簇中的参考点分别对应的第一检测框,确定该簇对应的第二检测框。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:

对于所述至少一个簇中的每个簇,响应于确定该簇中的参考点的数量小于所述预设数量,将该簇中的参考点分别对应的第一检测框删除。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于该簇中的参考点分别对应的第一检测框,确定该簇对应的第二检测框,包括:

基于该簇中的参考点分别对应的第一检测框的尺寸,确定该簇对应的第二检测框的尺寸;

基于该簇中的参考点,确定该簇对应的第二检测框对应的参考点。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述基于该簇中的参考点分别对应的第一检测框的尺寸,确定该簇对应的第二检测框的尺寸,包括:

确定该簇中的参考点分别对应的第一检测框的尺寸分量的平均值作为该簇对应的第二检测框的尺寸;

所述基于该簇中的参考点,确定该簇对应的第二检测框对应的参考点,包括:

确定该簇中的参考点的坐标分量的平均值作为该簇对应的第二检测框对应的参考点的坐标分量。

5.根据权利要求1-4之一所述的方法,其中,所述确定每个所述第一检测框对应的参考点,包括:

将所述每个目标检测设备分别对应的第一检测框转换到目标坐标系中,在所述目标坐标系中确定每个所述第一检测框对应的参考点。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述在所述目标坐标系中确定每个所述第一检测框对应的参考点,包括:

在所述目标坐标系中,确定每个所述第一检测框的中心点作为参考点。

7.一种目标检测装置,包括:

获取模块,用于获取车辆上的多个目标检测设备中的每个目标检测设备分别采集的点云帧;

检测模块,用于将所述每个目标检测设备分别对应的点云帧输入预先训练的点云检测模型,得到所述每个目标检测设备分别对应的用于表征目标物体的位置的第一检测框;

第一确定模块,用于确定每个所述第一检测框对应的参考点;

聚类模块,用于对所述参考点进行聚类,得到至少一个簇;

第二确定模块,用于对于所述至少一个簇中的每个簇,响应于确定该簇中的参考点的数量大于或等于预设数量,基于该簇中的参考点分别对应的第一检测框,确定该簇对应的第二检测框。

8.根据权利要求7所述的装置,其中,所述装置还包括:

第三确定模块,用于对于所述至少一个簇中的每个簇,响应于确定该簇中的参考点的数量小于所述预设数量,将该簇中的参考点分别对应的第一检测框删除。

9.一种计算机可读存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序用于执行上述权利要求1-6任一所述的方法。

10.一种电子设备,所述电子设备包括:

处理器;

用于存储所述处理器可执行指令的存储器;

所述处理器,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现上述权利要求1-6任一所述的方法。

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