[发明专利]密封缺陷的检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010044176.2 申请日: 2020-01-15
公开(公告)号: CN111250429B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 张甜 申请(专利权)人: 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市华讯方舟光电技术有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;G01N21/892;G06T7/00
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 刘永康
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 密封 缺陷 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种密封缺陷的检测方法,其特征在于,包括:

通过光频谱仪采集包括药物的包胶区域的表面信息、厚度信息和内部特征信息的光谱数据;

将所述光谱数据转换为图像数据,并将所述图像数据输入缺陷检测模型对包胶的所述药物的密封性进行检测得到检测结果;

若所述检测结果为不合格,则将所述药物筛除;

所述将所述光谱数据转换为图像数据,并将所述图像数据输入缺陷检测模型对所述药物的包胶密封性进行检测得到检测结果,包括:

将所述图像数据输入缺陷检测模型后,提取所述图像数据的多尺度特征图像;

根据所述多尺度特征图像进行图像分类得到检测结果;

在通过光频谱仪采集药物的光谱数据之前,还包括:

根据训练数据对所述缺陷检测模型进行密封性缺陷检测训练;所述训练数据包括具有外部或内部包胶缺陷的药物图像样本;

所述将所述光谱数据转换为图像数据,并将所述图像数据输入缺陷检测模型对所述药物的包胶密封性进行检测得到检测结果,包括:

通过傅里叶变换将所述光谱数据转换为图像数据。

2.如权利要求1所述的密封缺陷的检测方法,其特征在于,所述若所述检测结果为不合格,则将所述药物筛除,包括:

若所述检测结果为不合格,则通过控制电机将所述药物从包衣炉中剔除。

3.一种密封缺陷的检测装置,其特征在于,包括:

光谱数据采集模块,用于通过光频谱仪采集包括药物的包胶区域的表面信息、厚度信息和内部特征信息的光谱数据;

密封缺陷检测模块,用于将所述光谱数据转换为图像数据,并将所述图像数据输入缺陷检测模型对包胶的所述药物的密封性进行检测得到检测结果;

药物筛除模块,用于若所述检测结果为不合格,则将所述药物筛除;

所述密封缺陷检测模块包括:

多尺度特征图像提取单元,用于将所述图像数据输入缺陷检测模型后,提取所述图像数据的多尺度特征图像;

检测单元,用于根据所述多尺度特征图像进行图像分类得到检测结果;

所述装置还包括:

模型训练模块,用于根据训练数据对所述缺陷检测模型进行密封性缺陷检测训练;所述训练数据包括具有外部或内部包胶缺陷的药物图像;

所述将所述光谱数据转换为图像数据,并将所述图像数据输入缺陷检测模型对所述药物的包胶密封性进行检测得到检测结果,包括:

通过傅里叶变换将所述光谱数据转换为图像数据。

4.如权利要求3所述的密封缺陷的检测装置,其特征在于,所述药物筛除模块包括:

剔除单元,用于若所述检测结果为不合格,则通过控制电机将所述药物从包衣炉中剔除。

5.一种密封缺陷的检测装置,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至2任一项所述密封缺陷的检测方法的步骤。

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