[发明专利]测值装置在审

专利信息
申请号: 202010045771.8 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111239513A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 刘博;杨东 申请(专利权)人: 深圳市蓝眼博科科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/073;G01R1/02;G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 代理人: 赵雪晴
地址: 518109 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 装置
【说明书】:

发明公开了一种测值装置,包括支撑架、视觉系统、测值驱动机构以及测值机构,所述视觉系统安装在所述支撑架上,所述视觉系统用于获取电子元器件的精确位置,所述测值驱动机构安装在所述支撑架上,所述测值驱动机构能够输出往复运动,测值机构用于刺穿所述料带上的封装膜并对所述料带内的电子元器件进行测值,所述测值机构安装在所述测值驱动机构上,所述测值驱动机构用于驱动所述测值机构移动到所述精确位置处。该测值装置在对电子元器件进行检测时,在电子元器件的位置发生偏移时,测值驱动机构能够驱动测值机构动作而实现微调,依然能够进行精确的测值,检测精度高。

技术领域

本发明涉及表面贴装技术领域,具体涉及一种测值装置。

背景技术

在SMT(表面贴装技术)行业中,电子元器件一般是密封储存在料带上,然后料带卷绕成料盘,以便运输和存放。使用前,需要对料带内的电子元器件进行检测,检测工作一般是通过设置在料带输送轨道侧的自动测值机来完成的。自动测值机在对电子元器件进行检测时,其需要下降并刺穿料带上的封装膜,然后抵达电子元器件上的测值点位,现有的自动测值机一般仅能对特定位置处的电子元器件进行检测,即自动测值机只能下降到某一定点位置,其无法实现根据电子元器件的实际位置进行微调,当电子元器件的位置发生偏移时,自动测值机难以正常对电子元器件进行检测。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种测值装置,用于解决现有的自动测值机无法根据电子元器件的实际位置进行微调的问题。

根据本发明的实施例,该测值装置包括:

支撑架;

视觉系统,所述视觉系统安装在所述支撑架上,所述视觉系统用于获取电子元器件的精确位置;

测值驱动机构,所述测值驱动机构安装在所述支撑架上,所述测值驱动机构能够输出往复运动;

以及测值机构,用于刺穿料带上的封装膜并对所述料带内的电子元器件进行测值,所述测值机构安装在所述测值驱动机构上,所述测值驱动机构用于驱动所述测值机构移动到所述精确位置处。

作为所述测值装置的进一步可选方案,所述测值驱动机构包括第一驱动组件、第二驱动组件以及第三驱动组件,所述测值机构安装在所述第三驱动组件上,所述第二驱动组件和所述第三驱动组件安装在所述第一驱动组件上,所述第一驱动组件用于驱动所述第二驱动组件和所述第三驱动组件同步沿第一方向做往复运动,所述第三驱动组件安装在所述第二驱动组件上,所述第二驱动组件用于驱动所述第三驱动组件沿第二方向做往复运动,所述第三驱动组件能够输出沿第三方向的往复运动,用于驱动所述测值机构沿第三方向做往复运动。

作为所述测值装置的进一步可选方案,所述第一方向和所述第二方向为水平方向,且第一方向和所述第二方向相互垂直,所述第三方向为竖直方向。

作为所述测值装置的进一步可选方案,所述第一驱动组件包括沿第一方向设置的第一丝杠传动组件、沿第一方向设置的第一导轨以及安装在所述第一丝杠传动组件上的第一推动架,所述第一推动架用于推动所述第二驱动组件和所述第三驱动组件沿着所述第一导轨移动。

作为所述测值装置的进一步可选方案,所述第二驱动组件包括沿第二方向设置的第二丝杠传动组件、沿第二方向设置的第二导轨以及安装在所述第二丝杠传动组件上的第二推动架,所述第二推动架用于推动所述第三驱动组件沿着所述第二导轨移动。

作为所述测值装置的进一步可选方案,所述第三驱动组件包括摆臂组件、沿第三方向设置的第三导轨以及安装在所述摆臂组件上的测值安装架,所述摆臂组件能够输出沿第三方向的往复运动,所述摆臂组件用于驱动所述测值安装架沿所述第三导轨移动,所述测值机构安装在所述测值安装架上。

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