[发明专利]半导体装置及半导体电路在审
申请号: | 202010050387.7 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN112542513A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 末代知子;岩鍜治阳子 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L27/07;H01L29/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘英华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 电路 | ||
1.一种半导体装置,具备:
具有第1面及与上述第1面对置的第2面的半导体层,该半导体层具有:
与上述第2面接触的第1导电型的第1半导体区域;
与上述第2面接触的第2导电型的第2半导体区域;
第2导电型的第3半导体区域,设置于上述第1半导体区域与上述第1面之间、及上述第2半导体区域与上述第1面之间;
第1导电型的第4半导体区域,设置于上述第1半导体区域与上述第1面之间,在该第1导电型的第4半导体区域与上述第1半导体区域之间夹着上述第3半导体区域;
第2导电型的第5半导体区域,设置于上述第4半导体区域与上述第1面之间;
第1导电型的第6半导体区域,设置于上述第2半导体区域与上述第1面之间,在该第1导电型的第6半导体区域与上述第2半导体区域之间夹着上述第3半导体区域;
第1沟槽,在上述第1面侧与上述第4半导体区域接触而设置;和
第2沟槽,在上述第1面侧与上述第4半导体区域接触而设置,
第1栅极电极,设置于上述第1沟槽之中;
第1栅极绝缘膜,设置于上述第1栅极电极与上述第3半导体区域之间、及上述第1栅极电极与上述第4半导体区域之间,与上述第5半导体区域接触;
第2栅极电极,设置于上述第2沟槽之中;
第2栅极绝缘膜,设置于上述第2栅极电极与上述第3半导体区域之间、上述第2栅极电极与上述第4半导体区域之间;
第1电极,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第4半导体区域、上述第5半导体区域及上述第6半导体区域电连接;
第2电极,设置于上述半导体层的上述第2面侧,与上述第1半导体区域及上述第2半导体区域电连接;
第1电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第1栅极电极电连接,并被施加第1栅极电压;以及
第2电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第2栅极电极电连接,被施加第2栅极电压,
该半导体装置具有:包含上述第1半导体区域的第1区域、包含上述第2半导体区域的第2区域及设置于上述第1区域与上述第2区域之间、且上述第2沟槽的密度比上述第1区域高的第3区域。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
上述第2区域的上述半导体层还具有第3沟槽,该第3沟槽在上述第1面侧与上述第6半导体区域接触而设置,
上述半导体装置还具备:
第1导电层,设置于上述第3沟槽中;以及
第1绝缘膜,设置于上述第1导电层与上述第3半导体区域之间、上述第1导电层与上述第6半导体区域之间。
3.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,
上述第1导电层与上述第1电极电连接。
4.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,还具备:
第3电极焊盘,设置于上述半导体层的上述第1面侧,与上述第1导电层电连接。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置,其中,
上述第3区域的上述半导体层中设置的上述第2栅极绝缘膜与上述第5半导体区域不接触。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置,其中,
上述第3区域的上述半导体层中设置的上述第2栅极绝缘膜与上述第5半导体区域接触。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的半导体装置,其中,
上述第3区域的上述半导体层还具有第4沟槽,该第4沟槽在上述第1面侧与上述第4半导体区域接触而设置,
上述半导体装置还具备:
第2导电层,设置于上述第4沟槽中,与上述第1栅极电极及上述第2栅极电极电分离;以及
第2绝缘膜,设置于上述第2导电层与上述第3半导体区域之间、上述第2导电层与上述第4半导体区域之间。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,其中,
上述第2导电层与上述第1电极电连接。
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