[发明专利]测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质有效

专利信息
申请号: 202010050815.6 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111272146B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 丁亚林;远国勤;郑丽娜;张洪文 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C11/02 分类号: G01C11/02;G01S17/89;G01S7/481;G06T7/70;G06T11/60
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测绘 仪器 方法 装置 终端设备 存储 介质
【说明书】:

发明适用于地表测绘领域,提供了测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质,其中,所述测绘仪器包括:相机;复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。其中,测绘仪器可以提供基于二维扫描的工作方式,以能够实现单航带内大基高比倾斜宽幅成像,即根据飞行方向重访和垂直飞行方向大角度摆扫成像相结合,实现单航带内大倾斜、宽幅、高效及高精度测绘,从而使得航空测绘效率和精度均得到提升。

技术领域

本发明属于地表测绘领域,尤其涉及一种测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质。

背景技术

为实现高空远距离大比例尺高精度测绘,需要长焦距的测绘相机。目前国内外已有的测绘相机焦距较短,一般不超过200mm,不仅不能满足高空远距离高精度测绘需求,而且效率和精度较低,工作时需要采用垂直过顶的工作方式,不能应用于倾斜测绘。

因此,有必要对现有的航空测绘技术进行改进,以期实现航空测绘效率及精度的提升。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供一种测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质,以解决现有技术中的航空测绘效率和精度低的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种测绘仪器,搭载于飞行体上用以地表测绘,所述测绘仪器包括:相机;复合框架,所述相机安装于所述复合框架,所述复合框架包括机身、机身内框架和机身外框架,所述机身内框架用于带动所述相机在俯仰方向上转动,所述机身外框架用于带动所述相机在横滚方向上转动,以实现对地表二维扫描成像。

进一步地,所述复合框架还包括第一轴承、第二轴承,所述机身内框架通过所述第一轴承安装于所述机身外框架而形成俯角轴系,所述机身外框架通过所述第二轴承安装于所述机身而形成位角轴系。

进一步地,所述测绘仪器还包括:位角电机,其通过所述位角轴系驱动所述机身外框架旋转以带动所述相机在横滚方向上转动,实现对地表目标横向摆扫成像;第一角度传感器组件,其用于反馈所述位角轴系的旋转角度。

进一步地,所述测绘仪器还包括:俯角电机,其通过所述俯角轴系驱动所述机身内框架旋转以带动所述相机在俯仰滚方向上转动,实现对地表目标飞行方向像移补偿与重访;第二角度传感器组件,其用于反馈所述俯角轴系的旋转角度。

进一步地,所述测绘仪器还包括惯性测量组件、减震器,所述惯性测量组件安装于所述机身内框架,用于记录相机拍照时的姿态;所述机身通过所述减震器安装于所述飞行体的搭载平台;所述相机安装于所述机身内框架。

本发明实施例的第二方面提供了一种利用上述的测绘仪器实现对地表测绘的方法,包括:调整机身内框架至第一预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;将机身外框架复位至初始位置并且调整机身内框架至第二预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;循环执行上述步骤,每次循环过程中相机覆盖的区域限定出单条带,多个单条带拼接形成一个合成画幅。

进一步地,所述方法还包括:控制相邻两个合成画幅的摄影周期以使相邻两个合成画幅之间的重叠率不小于预设比例。

本发明实施例的第三方面提供了一种利用上述的测绘仪器实现对地表测绘的装置,包括:第一摆扫模块,用于调整机身内框架至第一预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;第二摆扫模块,用于将机身外框架复位至初始位置并且调整机身内框架至第二预定位置,使机身外框架用于带动相机在横滚方向上转动以实现横向摆扫成像;循环模块,用于循环执行所述第一摆扫模块和所述第二摆扫模块。

本发明实施例的第四方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明实施例的第二方面中所述的方法。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010050815.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top