[发明专利]一种GaSb基InSb量子点及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010066837.1 申请日: 2020-01-20
公开(公告)号: CN111244761B 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 欧欣;张晓蕾;王庶民;岳丽 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343;H01L31/18;H01L21/02;H01L31/0304;H01L31/0352;B82Y30/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 gasb insb 量子 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种GaSb基InSb量子点的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取GaSb衬底;

将所述GaSb衬底放入分子束外延生长室进行脱氧处理;所述脱氧处理的脱氧温度为630-680℃;所述脱氧处理的脱氧时间为10-20分钟;

在所述GaSb衬底上生长GaSb缓冲层;所述GaSb缓冲层的厚度为100-200纳米;所述GaSb缓冲层的生长温度为580-630℃;

在所述GaSb缓冲层上生长AlAs形核层;所述AlAs形核层的厚度为0.5-1个原子层;所述AlAs形核层的生长温度为380-480℃;

在所述AlAs形核层上生长InSb量子点层;所述InSb量子点层的厚度为2-3个原子层;所述InSb量子点层的生长温度为380-480℃。

2.一种GaSb基InSb量子点,其特征在于,利用权利要求1所述的制备方法制备得到,所述GaSb基InSb量子点包括GaSb衬底、GaSb缓冲层、AlAs形核层和InSb量子点层;

所述GaSb衬底、所述GaSb缓冲层、所述AlAs形核层和所述InSb量子点层依次层叠连接。

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