[发明专利]一种GaSb基InSb量子点及其制备方法有效
申请号: | 202010066837.1 | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111244761B | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 欧欣;张晓蕾;王庶民;岳丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01S5/343 | 分类号: | H01S5/343;H01L31/18;H01L21/02;H01L31/0304;H01L31/0352;B82Y30/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 gasb insb 量子 及其 制备 方法 | ||
本申请提供一种GaSb基InSb量子点及其制备方法,该GaSb基InSb量子点的制备方法包括以下步骤:获取GaSb衬底;将GaSb衬底放入分子束外延生长室进行脱氧处理;在GaSb衬底上生长GaSb缓冲层;在GaSb缓冲层上生长AlAs形核层;在AlAs形核层上生长InSb量子点层。本申请实施例提供的GaSb基InSb量子点的制备方法中,在生长InSb量子点之前先生长原子层尺度的AlAs层,利用AlAs和GaSb之间较大的晶格失配以及表面能差异来形成有效的AlAs形核层;该制备方法既可以改变InSb量子点成核界面的阴离子类型又可以增加InSb量子点生长界面的粗糙度,二者都可以降低In原子的扩散长度,提高InSb量子点的形核中心,从而提高InSb量子点的密度。
技术领域
本申请涉及量子点制备技术领域,特别涉及一种GaSb基InSb量子点及其制备方法。
背景技术
Ⅲ族/Ⅴ族量子点因为具备一些独一无二的物理特性而被广泛应用于激光器、探测器等光电器件的研究,例如量子点激光器一般具有高增益、低阈值电流密度以及低温度敏感系数等优势。InSb作为一种窄带隙半导体,因其拥有的高电子迁移率等特性受到了越来越多的关注。尤其是InSb较小的禁带宽度使其在3-5微米高性能中红外激光器的研究具有重要意义。
目前关于InSb量子点系统的研究主要分为两种,分别是InSb/InAs和InSb/GaSb。InSb/GaSb系统的晶格失配度与已经被广泛研究的InAs/GaAs系统极其相似,分别为6.3%和7.3%,这一特性吸引了越来越多的研究者去挖掘InSb/GaSb系统的可能性。此外GaSb衬底相比于InAs衬底发展更成熟,价格更便宜,更具有商业价值。
通过分子束外延技术在GaSb衬底上外延生长InSb量子点是一种常见方法。研究发现在GaSb上生长InSb量子点存在很多问题。和其它Ⅲ/Ⅴ量子点的生长相似,InSb在GaSb表面的生长也遵循Stranski-Krastanow的生长模式。由于In原子和Sb原子之间的键能较小,In原子在GaSb界面的扩散长度较大,使得生长出来的InSb量子点的的尺寸较大,密度较低、存在大量缺陷并且处于弛豫状态,因此如何减小In原子的扩散长度,获得高密度、高质量的GaSb基InSb量子点一直是一个难题。由于InSb量子点密度难以提高,目前国际上关于在GaSb衬底上生长InSb量子点的研究大多停留在量子点的形貌上,对于其发光特性未能进行深入探索,近年来关于InSb量子点的研究进程缓慢。因此,想要进一步获得高性能的GaSb基InSb量子点光电器件,迫切需要找到有效提高InSb量子点密度的方法,从而获得高密度、高质量的InSb量子点。
发明内容
本申请要解决是如何提高InSb量子点密度的技术问题。
为解决上述技术问题,本申请实施例公开了一种GaSb基InSb量子点的制备方法,包括以下步骤:
获取GaSb衬底;
将GaSb衬底放入分子束外延生长室进行脱氧处理;
在GaSb衬底上生长GaSb缓冲层;
在GaSb缓冲层上生长AlAs形核层;
在AlAs形核层上生长InSb量子点层。
进一步地,脱氧处理的脱氧温度为630-680℃。
进一步地,脱氧处理的脱氧时间为10-20分钟。
进一步地,GaSb缓冲层的厚度为100-200纳米。
进一步地,GaSb缓冲层的生长温度为580-630℃。
进一步地,AlAs形核层的厚度为0.5-1个原子层。
进一步地,AlAs形核层的生长温度为380-480℃。
进一步地,InSb量子点层的厚度为2-3个原子层。
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