[发明专利]墙面平整度检测方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种墙面平整度检测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：获取墙面的第一图像、第二图像以及摄像设备的参数信息；根据第一图像以及第二图像，获得第一相位图像以及第二相位图像；根据第一相位图像、第二相位图像以及摄像设备参数信息进行三维重构，生成三维图像；根据三维图像，计算墙面的平整度。采用本方法能够根据墙面的图像以及摄像设备参数信息，建立三维图像，根据三维图像，计算墙面的平整度，采用非接触式测量方式计算墙面的平整度，无需标定基准面，直接测量墙面平整度，具有测量速度快、测量范围广、对被测墙面无影响等特点，可以替代人工进行测量墙面，减少安全事故、提高建筑效率。

技术领域

本申请涉及机器视觉技术领域，特别是涉及一种墙面平整度检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着人工智能技术的高速发展，越来越多的工业设备要求达到智能化水平，这就使得“机器视觉”成为当下的研究热点，而三维成像技术又是机器视觉中的热点。三维成像需要先进行三维测量，获得被测物表面在世界坐标系下的三维坐标信息，然后生成点云图，构建出其表面三维形貌。三维测量技术是获取被测物表面点的世界坐标的一种统称，可分为接触式测量和非接触式测量两大类。接触式的测量方案主要是通过传统的机械式传感器去实现的，通过探头或探针在被测物表面滑动而得出的。非接触式测量主要通过广播或电磁波、超声波等，通过波的发射和反射来实现测量。相比而言，非接触式测量方案具有速度快、应用场景限制较少、对被测物无影响等优点而越来越得到广泛的应用。光学三维测量技术是通过光学仪器和电子设备对被测物的表面三维信息进行扫描，运用计算机视觉和计算机图形学的相关知识，在计算机中快速的再现物体的三维几何形态。

目前基于视觉测量的方法要获得物体的三维信息方式，测量误差较大，测量耗时长，不适用于建筑物墙面平整度的测量。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够精确测量墙面平整度的墙面平整度检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种墙面平整度检测方法，所述方法包括：

获取墙面的第一图像、第二图像以及摄像设备的参数信息；

根据所述第一图像以及第二图像，获得第一相位图像以及第二相位图像；

根据所述第一相位图像、第二相位图像以及所述参数信息进行三维重构，生成三维图像；

根据所述三维图像，计算所述墙面的平整度。

在其中一个实施例中，所述摄像设备包括第一摄像设备和第二摄像设备；

向墙面投射条纹投影；

获取所述第一摄像设备对墙面采集的第一原始图像以及所述第二摄像设备对墙面采集的第二原始图像，所述第一原始图像与所述第二原始图像具有重合区域；

对所述第一原始图像以及第二原始图像进行图像处理，得到第一图像以及第二图像，其中，所述图像处理包括滤波、插值、曲面拟合至少一种处理方式。

在其中一个实施例中，根据所述第一图像以及第二图像的像素灰度值，检索对应的相位映射表，获得所述第一相位图像以及所述第二相位图像。

在其中一个实施例中，所述第一相位图像包括第一水平相位图像以及第一垂直相位图像；所述第二相位图像包括第二水平相位图像以及第二垂直相位图像；

根据所述第一水平相位图像、第一垂直相位图像、第二水平相位图像以及第二垂直相位图像进行图像匹配，得到图像视差；

根据所述图像视差以及所述参数信息进行三维重构，生成三维图像。