[发明专利]交互式仪器测量分析

权利要求书

1.一种测试和测量仪器，包括：

存储器，其被配置成存储波形数据记录；

一个或多个处理器，其被配置成：

接收所述波形数据记录，

确定所述波形数据记录中的针对测量事件的多个出现的测量值和位置，

检测所述多个出现中的一个或多个逻辑路径段，以及

生成每个测量值的可视表示并叠加每个测量值的所述可视表示中的每一个；以及

显示器，其被配置成显示所述测量值的可视表示。

2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述一个或多个处理器还被配置成分离所述一个或多个逻辑路径段中的每一个，并且所述显示器还被配置成显示所述逻辑路径段中的每一个。

3.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中，所述显示器还被配置成与所述测量值的可视表示同时显示所述逻辑路径段中的每一个。

4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述一个或多个处理器被配置成通过模式识别来检测所述一个或多个逻辑路径段。

5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器，其中，所述模式识别包括：基于所述测量值中的每一个来生成网格，并且将类似的相邻网格单元分为一组。

6.根据权利要求4所述的测试和测量仪器，其中，所述模式识别包括使用密度分析来关联测量值。

7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，还包括用户输入，其中，所述一个或多个处理器还被配置成基于所述用户输入来过滤检测到的一个或多个逻辑路径段。

8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述测量值是以下中的一个：上升沿测量、下降沿测量、上升和下降沿测量、沿测量、长位测量、或自定义测量。

9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述测量值是第一测量值，并且所述一个或多个处理器还被配置成基于所述第一测量值和与所述第一测量值不同的第二测量值来生成直方图。

10.一种自动检测测量总体中的逻辑路径段的方法，包括：

确定波形数据记录中的针对测量事件的多个出现的测量值和位置；

检测所述多个出现中的一个或多个逻辑路径段；

生成每个测量值的可视表示并叠加每个测量值的每个可视表示；以及

在显示器上显示每个测量值的每个可视表示。

11.根据权利要求10所述的方法，还包括：

分离所述一个或多个逻辑路径段中的每一个；以及

显示所述逻辑路径段中的每一个。

12.根据权利要求11所述的方法，还包括与每个测量值的所述可视表示同时显示所述逻辑路径段中的每一个。

13.根据权利要求10所述的方法，还包括通过模式识别来检测所述一个或多个逻辑路径段。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述模式识别包括：基于所述测量值中的每一个来生成网格，并且将类似的相邻网格单元分为一组。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，所述模式识别包括使用密度分析来关联测量值。

16.根据权利要求10所述的方法，还包括基于用户输入来过滤检测到的一个或多个逻辑路径段。

17.根据权利要求10所述的方法，其中，所述测量值是以下中的一个：上升沿测量、下降沿测量、上升和下降沿测量、沿测量、长位测量、或自定义测量。