[发明专利]交互式仪器测量分析

说明书

本发明涉及交互式仪器测量分析。一种测试和测量仪器包括：被配置成存储波形数据记录的存储器；一个或多个处理器；以及显示器。所述一个或多个处理器被配置成接收波形数据记录，确定波形数据记录中的针对测量事件的多个出现的测量值和位置，检测所述多个出现中的一个或多个逻辑路径段，以及生成每个测量值的可视表示并叠加每个测量值的可视表示中的每一个。一个或多个逻辑路径段和/或每个测量值的可视表示可以显示在显示器上。

优先权

本公开要求对提交于2019年1月21日的名称为“INTERACTIVE INSTRUMENTMEASUREMENT ANALYTICS”的美国临时申请号62/794,967的权益，通过引用将其整体地并入本文。

技术领域

本公开涉及与测试和测量系统有关的系统和方法，并且特别地涉及从波形数据记录生成测量总体（measurement population）并自动地检测测量总体内的逻辑路径段。

背景技术

通常，在诸如示波器之类的测试和测量仪器中的测量被表示为黑盒结果。这导致用户无法容易地复验（review）测量以确定任何错误或异常结果的潜在原因。当测量和/或结果对于用户来说合理时，这不是问题。然而，如果测量和/或结果对用户而言看起来异常，则用户将不得不在没有来自测试和测量仪器的关于结果为何可能异常的任何进一步的信息的情况下尝试调试他们的被测设备。

传统的测试和测量仪器通常仅对波形执行一次测量。如果用户想查看测量的源头，则用户可以寻找波形中的第一次出现或打开测量注释。然而，在现代的测试和测量仪器中，对波形的所有出现进行测量，并且测试和测量仪器可以输出测量静态数据（statics）和直方图。如果结果出乎意料，则可能更难弄清的是测量为什么出乎意料。

本公开的实施例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

根据参考附图的对实施例的以下描述，本公开的实施例的方面、特征和优点将变得显而易见，在附图中：

图1是根据本公开的实施例的示例测试和测量仪器的框图。

图2是上升沿波形测量的直方图的示例。

图3是根据本公开的实施例的显示在方格图中的多个叠加的上升沿测量的示例。

图4是根据本公开的实施例的在图3的叠加的上升沿测量中检测到的多个逻辑路径段的示例。

图5是图4中描绘的逻辑路径段中的每一个的直方图的示例。

图6是根据本公开的一些实施例的叠加多个上升沿测量的示例方法的例示。

图7是根据本公开的实施例的可以如何确定逻辑路径段的例示。

图8是根据本公开的实施例的可以如何确定逻辑路径段的例示。

图9是根据本公开的实施例的可以如何确定逻辑路径段的例示。

图10是根据本公开的实施例的可以如何确定逻辑路径段的例示。

图11是根据本公开的实施例的可以如何确定逻辑路径段的例示。

图12是根据本公开的实施例的显示在显示器上的图形用户界面的示例。

图13是根据本公开的实施例的显示在显示器上的图形用户界面的另一示例。

图14是根据本公开的一些实施例的使用与图形用户界面的触发类交互来过滤测量总体的示例。

图15是根据本公开的一些实施例可以生成的直方图的示例。

图16是根据本公开的实施例的显示在显示器上的图形用户界面的另一示例。