[发明专利]产生具有符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及装置

权利要求书

1.一种产生具有符合所需的错误基数(error floor)的低密度奇偶校验码(Low-Density Parity-Check code，LDPC code)的方法，包含：

利用一奇偶校验产生电路产生一低密度奇偶校验码；

利用一检测电路根据一数据库中的多个陷阱集共用结构(trapping set core)对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的至少一陷阱集共用结构资讯，其中各该陷阱集共用结构资讯包含该些陷阱集共用结构中之一者、该陷阱集共用结构于该低密度奇偶校验码中的出现数量以及出现位置，且各该陷阱集共用结构资讯所包含的该陷阱集共用结构互不相同；

利用一验证电路根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行一重要性取样(Importance Sampling，IS)模拟，以得到各该陷阱集共用结构资讯对应的一估算错误基数；

利用该验证电路将各该估算错误基数与一预期错误基数进行比较；及

于所有该估算错误基数皆小于或等于该预期错误基数时，利用该验证电路输出该低密度奇偶校验码。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，于任一该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数大于该预期错误基数时，返回执行利用该奇偶校验产生电路产生该低密度奇偶校验码的步骤。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用该验证电路根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行该重要性取样以得到对应于各该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数的步骤包含：

利用该验证电路的一码字产生模块根据该低密度奇偶校验码与一讯息产生一第一码字(codeword)；

利用该验证电路的一杂讯产生模块根据该陷阱集共用结构资讯在该低密度奇偶校验码中该陷阱集共用结构的该出现位置上添加具有一第一值的第一杂讯，并在该低密度奇偶校验码中的其余位置上添加具有一第二值的第二杂讯，以产生一第二码字，其中该第一值大于该第二值；

利用该验证电路的一解码器根据该第二码字进行解码并产生一解码结果；

利用该验证电路的一运算器根据该第一码字与该解码结果得到一模拟错误基数；及

利用该运算器根据该模拟错误基数和该第一值与该第二值之间的比值得到该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用该检测电路根据该数据库中的该些陷阱集共用结构对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的该至少一陷阱集共用结构资讯的步骤包含：

利用该检测电路的一行选择器选择该低密度奇偶校验码中一第一数量的多个行，并利用该检测电路的一列选择器选择该低密度奇偶校验码中一第二数量的多个列；

利用该检测电路的一检测模块检测在被选择的该第一数量的该些行与该第二数量的该些列上是否出现该些陷阱集共用结构中之一；

于检测完被选择的该第一数量的该些行与该第二数量的该些列上后，返回执行利用该检测电路的该行选择器选择该低密度奇偶校验码中该第一数量的该些行并利用该检测电路的该列选择器选择该低密度奇偶校验码中该第二数量的该些列的步骤；

于该检测模块已扫过该行选择器所选择的该些行与该列选择器所选择的该些列的所有组合后，根据于该低密度奇偶校验码中出现的各该陷阱集共用结构产生相应的该陷阱集共用结构资讯。

5.一种用以产生具有符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的装置，包含：

一数据库，用以储存多个陷阱集共用结构；

一奇偶校验产生电路，用以产生一低密度奇偶校验码；

一检测电路，用以根据该些陷阱集共用结构对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的至少一陷阱集共用结构资讯，其中各该陷阱集共用结构资讯包含该些陷阱集共用结构中之一者、该陷阱集共用结构于该低密度奇偶校验码的出现数量以及出现位置，且各该陷阱集共用结构资讯所包含的该陷阱集共用结构互不相同；及

一验证电路，用以根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行一重要性取样模拟，以得到各该陷阱集共用结构资讯对应的一估算错误基数，并将各该估算错误基数与一预期错误基数进行比较，且于所有该估算错误基数小于或等于该预期错误基数时，输出该低密度奇偶校验码。