[发明专利]基板清洗方法、基板清洗装置及存储介质在审
申请号: | 202010082181.2 | 申请日: | 2020-02-07 |
公开(公告)号: | CN111540669A | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 石桥知淳;石川浩;西嶋真澄 | 申请(专利权)人: | 株式会社荏原制作所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种基板清洗方法,所述基板清洗方法进行n次在清洗部件与旋转的基板接触的状态下使所述清洗部件在所述基板上的第一位置与位于所述基板的边缘附近的第二位置之间移动的步骤,n为2以上的整数,该基板清洗方法的特征在于,
对使所述清洗部件移动的驱动部进行控制的控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次中,在所述清洗部件到达所述第二位置之后,以规定时间执行在所述清洗部件与所述基板上的第二位置接触的状态下进行所述基板的清洗的边缘清洗工序,
并且,所述控制部控制所述驱动部,以便在第n次中,在所述清洗部件到达所述基板的所述第二位置的时刻,使所述清洗部件从所述基板离开。
2.根据权利要求1所述的基板清洗方法,其特征在于,
所述控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次中,在接收到表示所述清洗部件到达所述第二位置的信号之后,执行所述边缘清洗工序。
3.根据权利要求1所述的基板清洗方法,其特征在于,
所述第一位置是所述基板上的中心或中心附近,
所述控制部控制所述驱动部以进行n次如下步骤:
(a)清洗部件与所述基板上的第一位置接触,
(b)以在所述基板上清洗所述基板的状态使所述清洗部件移动到所述基板上的第二位置,
(c)使到达所述基板上的第二位置的所述清洗部件从所述基板离开,
并且,所述控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次的上述(c)中,在所述清洗部件到达所述第二位置之后,执行所述边缘清洗工序。
4.根据权利要求1所述的基板清洗方法,其特征在于,
利用保持部件保持所述基板的外周的一部分而使所述基板旋转,
所述第二位置是所述清洗部件不与所述保持部件干涉的位置。
5.根据权利要求1所述的基板清洗方法,其特征在于,
所述清洗部件一边向与所述基板相同的方向旋转一边与所述基板接触。
6.一种基板清洗方法,所述基板清洗方法进行n次在清洗部件与旋转的基板接触的状态下使所述清洗部件在所述基板上的第一位置与位于所述基板的边缘附近的第二位置之间移动的步骤,n为2以上的整数,该基板清洗方法的特征在于,
对使所述清洗部件移动的驱动部进行控制的控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次中,在所述清洗部件到达所述第二位置之后,以规定时间执行在所述清洗部件与所述基板上的第二位置接触的状态下进行所述基板的清洗的边缘清洗工序,
并且,所述控制部控制所述驱动部,以便在第n次中,在所述清洗部件到达所述基板的第二位置之后,在经过所述规定时间之前,使所述清洗部件从所述基板离开。
7.根据权利要求6所述的基板清洗方法,其特征在于,
所述控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次中,在接收到表示所述清洗部件到达所述第二位置的信号之后,执行所述边缘清洗工序。
8.根据权利要求6所述的基板清洗方法,其特征在于,
所述第一位置是所述基板上的中心或中心附近,
所述控制部控制所述驱动部以进行n次如下步骤:
(a)清洗部件与所述基板上的第一位置接触,
(b)以在所述基板上清洗所述基板的状态使所述清洗部件移动到所述基板上的第二位置,
(c)使到达所述基板上的第二位置的所述清洗部件从所述基板离开,
并且,所述控制部控制所述驱动部,以便在第1~n-1次中的至少1次的上述(c)中,在所述清洗部件到达所述第二位置之后,执行所述边缘清洗工序。
9.根据权利要求6所述的基板清洗方法,其特征在于,
利用保持部件保持所述基板的外周的一部分而使所述基板旋转,
所述第二位置是所述清洗部件不与所述保持部件干涉的位置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造