[发明专利]晶片的加工方法有效

专利信息
申请号: 202010091970.2 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN111571043B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 古田健次 申请(专利权)人: 株式会社迪思科
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;B23K26/53;B23K26/70
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 乔婉;于靖帅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 晶片 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种晶片的加工方法,该晶片在由多条第1分割预定线和与该第1分割预定线交叉的多条第2分割预定线划分的多个区域的正面侧形成有器件,其特征在于,

该晶片的加工方法具有如下的步骤:

保护部件粘贴步骤,在该晶片的正面侧粘贴保护部件;

第1步骤,在使对于该晶片具有透过性的激光束的聚光点的高度与隔着该保护部件被卡盘工作台保持的该晶片的内部中的位于该晶片的正面侧的第1区域的高度一致的状态下,从该晶片的背面侧沿着多条该第1分割预定线照射该激光束,接着,使激光束的聚光点与向该晶片的背面侧偏移后的高度一致,沿着该第1分割预定线照射,从而在该第1区域中,沿着该第1分割预定线形成作为该晶片的分割起点而发挥功能的多个第1改质层;

第2步骤,在实施了该第1步骤之后,在使该激光束的聚光点的高度与该晶片的内部中的位于该晶片的正面侧的第1区域的高度一致的状态下,从该晶片的背面侧沿着多条该第2分割预定线照射该激光束,接着,使激光束的聚光点与向该晶片的背面侧偏移后的高度一致,沿着该第2分割预定线照射,从而在该第1区域中,沿着该第2分割预定线形成作为该晶片的分割起点而发挥功能的多个第1改质层;

在第2区域中沿着该第1分割预定线形成第2改质层的第3步骤,在实施了该第2步骤之后,在使该激光束的聚光点的高度与该晶片的内部中的位于该晶片的背面侧的该第2区域的高度一致的状态下,从该晶片的背面侧沿着多条该第1分割预定线照射该激光束,接着,使激光束的聚光点与向该晶片的背面侧偏移后的高度一致,沿着该第1分割预定线照射,从而在该第2区域中,沿着该第1分割预定线形成作为该晶片的分割起点而发挥功能的多个该第2改质层,并且形成从该晶片的正面至背面的龟裂,沿着多条该第1分割预定线对该晶片进行分割;

在该第2区域中沿着该第2分割预定线形成第2改质层的第4步骤,在实施了该第3步骤之后,在使该激光束的聚光点的高度与该晶片的内部中的位于该晶片的背面侧的第2区域的高度一致的状态下,从该晶片的背面侧沿着多条该第2分割预定线照射该激光束,接着,使激光束的聚光点与向该晶片的背面侧偏移后的高度一致,沿着该第2分割预定线照射,从而在该第2区域中,沿着该第2分割预定线形成作为该晶片的分割起点而发挥功能的多个第2改质层,并且形成该第2分割预定线的从该晶片的正面至背面的龟裂,沿着多条该第2分割预定线对该晶片进行分割;以及

磨削步骤,在实施了该第4步骤之后,对该晶片的背面侧进行磨削而使该晶片薄化至规定的厚度。

2.根据权利要求1所述的晶片的加工方法,其特征在于,

在该第1步骤和该第2步骤中,产生从该第1改质层至该晶片的正面的龟裂。

3.根据权利要求1或2所述的晶片的加工方法,其特征在于,

在该第1步骤和该第2步骤中,以使该晶片的正面与该第1改质层的距离比该规定的厚度大的方式形成该第1改质层,

在该磨削步骤中,通过使该晶片薄化至该规定的厚度而去除该第1改质层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社迪思科,未经株式会社迪思科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010091970.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top