[发明专利]测量方法、系统以及存储介质

说明书

本申请公开了一种测量方法、系统以及存储介质。其中，该方法包括利用测量装置对被测目标进行测量并生成与被测目标相关的测量信息；利用陀螺仪以及加速度计检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，其中陀螺仪以及加速度计设置于与测量装置连接的平台装置内；以及根据位姿检测信息，对测量信息进行校正。

技术领域

本申请涉及测量技术领域，特别是涉及一种测量方法、系统以及存储介质。

背景技术

在使用测量装置对被测目标进行测量的过程中，例如使用光管测量装置对被测目标的平行度或者角度检测的过程中，容易受到颤动、抖动等外界的干扰。尤其是在手持仪器进行测量时，受到手部的颤抖的影响，会使得测量装置的光轴的位置和角度都受到干扰，从而导致测量结果产生较大误差。此外，测量装置在安装固定过程中也可能会出现安装位置以及安装姿态的偏差，从而也容易导致测量结果产生较大误差。

对于由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本公开提供了一种测量方法、系统以及存储介质，以至少解决现有技术中存在的由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题。

根据本申请的一个方面，提供了一种测量方法，包括：利用测量装置对被测目标进行测量并生成与被测目标相关的测量信息；利用陀螺仪以及加速度计检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，其中陀螺仪以及加速度计设置于与测量装置连接的平台装置内；以及根据位姿检测信息，对测量信息进行校正。

根据本申请的另一个方面，提供了一种测量系统，包括：处理器；以及存储器，与处理器连接，用于为处理器提供处理以下处理步骤的指令：利用测量装置对被测目标进行测量并生成与被测目标相关的测量信息；利用陀螺仪以及加速度计检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，其中陀螺仪以及加速度计设置于与测量装置连接的平台装置内；以及根据位姿检测信息，对测量信息进行校正。

综上所述，本实施例利用安装测量装置的平台装置内的陀螺仪和加速度计检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息。然后根据该位姿检测信息，对测量装置测量的与被测目标相关的测量信息进行校正，从而能够有效地补偿由于外界的颤动或抖动的干扰引起的测量装置的测量结果误差以及由于安装时的位置或角度偏差导致的测量装置的测量结果误差。从而解决了现有技术中存在的由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题。

根据下文结合附图对本申请的具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本申请的上述以及其他目的、优点和特征。

附图说明

后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：

图1是根据本申请实施例1的第一个方面所述的测量平台系统的结构示意图；

图2是根据本申请实施例1的第一个方面所述的平台装置的示意性内剖图；

图3是根据本申请实施例1的第一个方面所述的测量方法的流程示意图；

图4是根据本申请实施例1所述的利用固定于平台装置上的测量装置对被测目标进行检测的示意图；

图5是根据本申请实施例1所述的测量装置在对被测目标进行检测时，其载体坐标系与地理坐标系之间的欧拉角的示意图；

图6是根据本申请实施例1所述的测量装置的示意性内剖图；

图7是根据本申请实施例1所述的测量装置的光学系统的结构示意图；