[发明专利]一种对核酸酶活性进行特异性调控的方法有效
申请号: | 202010095710.2 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN111172252B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 肖先金;明志浩;章伟 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | C12Q1/6858 | 分类号: | C12Q1/6858;C12Q1/682;C12Q1/6827 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 杨采良 |
地址: | 430074 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 核酸酶 活性 进行 特异性 调控 方法 | ||
1.一种对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,所述对核酸酶活性进行特异性调控的方法包括:
步骤一,对不同突变位点的基因序列,设计相应的Guiding链;
步骤二,合成制备所需的Guiding链;
步骤三,将Guiding链与探针检测体系混合,使底物链转化为长度更长的DNA双链,Guiding链与底物链的比例为2:1;
步骤四,向包含Guiding链和探针检测体系的混合体系中加入Endo IV,并进行实时荧光测定;
步骤一设计Guiding链的方法包括:
步骤1,确定底物链的探针杂交域,所述底物链为待检测的目标序列;
步骤2,设计两条DNA单链,所述DNA单链为Guiding链,使两条Guiding链其与底物链的探针杂交结构域外的部分互补且探针与Guiding链之间无碱基间隙,一起构成核酸酶优先结合的长双链结构。
2.如权利要求1所述的对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,Guiding链的长度大于20-nt。
3.如权利要求1所述的对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,若突变位置过于靠近底物链5’或3’端,只引入一条Guiding链与底物杂交结构域外互补。
4.如权利要求1所述的对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,步骤2对核酸酶活性进行调控的方法包括:
步骤I,设计反应体系,合成制备寡核苷酸链;反应体系包括核酸酶,探针,缓冲液,H2O和双链DNA;探针序列为SEQ ID NO:1,引物序列为SEQ ID NO:2,双链DNA为序列包括SEQ IDNO:3、SEQ ID NO:4;
步骤II,配置反应体系,在400uL酶标条中,加入100nM探针,5uL ThermoPol缓冲液,0.1单位Endo IV或2单位APE-1或2单位lambda exo,并用去离子水补齐到50uL总体积;
步骤III,向上述反应体系中加入不同量,不同长度的双链DNA,放入荧光检测仪器中,进行实时荧光测定;
热程序:37℃,每20s测定一次荧光值。
5.如权利要求1所述的对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,步骤四进行实时荧光测定的方法进一步包括:
步骤i,设计反应体系,合成制备寡核苷酸链,靶标为EGFR-L858R突变,依据该突变的DNA序列,设计Endo IV参与的核酸检测体系所需的底物链MT序列为SEQ ID NO:6,WT序列为SEQ ID NO:7;探针probe,探针序列为SEQ ID NO:1,阻断链blocker序列为SEQ ID NO:5以及相应的Guiding链序列包括SEQ ID NO:8、SEQ ID NO:9;
步骤ii,配置反应体系,在400uL酶标条中,加入100nM probe,1000nM MT/WT,2000nMblocker, 5uL ThermoPol缓冲液,0.1单位Endo IV,向其中一组加入2000nM Guiding-1,2000nM Guiding-2,另一组不加,两组均用去离子水补齐到50uL总体积;
步骤iii,将上述反应体系迅速放入荧光检测仪器中,进行实时荧光测定;
热程序:37℃,每20s测定一次荧光值。
6.如权利要求1所述的对核酸酶活性进行特异性调控的方法,其特征在于,步骤四进行实时荧光测定的方法进一步包括:
步骤(a),设计反应体系,合成制备寡核苷酸链;靶标为EGFR-L858R突变,依据该突变的DNA序列,设计Endo IV参与的核酸检测体系所需的底物链MT,WT,探针probe,阻断链blocker以及相应的Guiding链;
步骤(b),配置反应体系,不同比例突变体的50µL反应体系:
探针量:1000nM;
突变比例:100%,10%,1%,0.5%,0.1%,0.01%,0%,混合链总量均为1000nM;
阻断链量:2000nM;
Guiding链量:2000nM;
Endo IV量:0.1单位;
步骤(c),将上述反应体系迅速放入荧光检测仪器中,进行实时荧光测定;
热程序:37℃,每20s测定一次荧光值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010095710.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。