[发明专利]基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统

权利要求书

1.一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，所述方法包括：

对线缺陷Code字典进行离线编辑，更新线缺陷Code字典；

通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测；

判断所述液晶面板图像中是否存在线缺陷；

若所述液晶面板图像中存在线缺陷，则获取所述线缺陷的特征；

根据所述线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值；

将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。

2.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，对线缺陷Code字典进行离线编辑，更新线缺陷Code字典，包括：

在企业GMQM中添加类型线缺陷Code；

设定所述类型线缺陷优先级；

设定所述类型线缺陷的特征；

更新所述企业GMQM的线缺陷Code字典。

3.根据权利要求2所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，设定所述类型线缺陷的特征，包括：

设定所述类型线缺陷的个数；

判断所述类型线缺陷的个数是否达到第一预设值；

若所述类型线缺陷的个数未达到第一预设值，则设定所述类型线缺陷的面积占比；

判断所述面积占比是否达到第二预设值；

若所述面积占比达到第二预设值，则检测所述线缺陷上的点；

根据所述线缺陷上的点设定所述线缺陷的线宽。

4.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，通过AOI对液晶面板图像进行各类型缺陷检测，包括：

通过工业相机采集所述液晶面板的不同画面；

通过AOI对采集的液晶面板图像进行缺陷检测，获得所述液晶面板的各类缺陷。

5.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，获取所述线缺陷的个数、面积占比、线宽、线间距特征。

6.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法，其特征在于，根据所述线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值，包括：

根据所述线缺陷的特征在所述线缺陷Code字典中查询对应的线缺陷Code；

若所述线缺陷Code字典中存在对应的线缺陷Code，则对所述线缺陷Code进行赋值分类；

若所述线缺陷Code字典中不存在对应的线缺陷Code，则再次更新所述线缺陷Code字典。

7.一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类系统，其特征在于，包括：

更新模块，用于对线类缺陷Code字典进行离线编辑，更新线缺陷Code字典；

检测模块，用于通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测；

判断模块，用于判断所述液晶面板图像中是否存在线缺陷；

赋值模块，用于当所述液晶面板图像中存在线缺陷时，根据线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值；

上传模块，用于将赋值后的线缺陷Code上传至GMQM。

8.根据权利要求7所述的AOI可编辑线缺陷分类系统，其特征在于，所述更新模块包括：

添加单元，用于在企业GMQM中添加类型线缺陷Code；

设定单元，用于设定所述类型线缺陷优先级与所述类型线缺陷的特征；

更新单元，用于更新所述企业GMQM的线缺陷Code字典。

9.根据权利要求7所述的AOI可编辑线缺陷分类系统，其特征在于，所述赋值模块包括：

查找单元，用于根据所述线缺陷的特征在所述线缺陷Code字典中查询对应的线缺陷Code；

赋值单元，用于当所述线缺陷Code字典中存在对应的线缺陷Code时，对所述线缺陷Code进行赋值分类。