[发明专利]基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统在审
申请号: | 202010100987.X | 申请日: | 2020-02-19 |
公开(公告)号: | CN111223091A | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 卢迎彬;姚毅 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术集团有限责任公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62;G01N21/88 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 企业 gmqm aoi 编辑 缺陷 分类 方法 系统 | ||
本申请公开了一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统,所述方法包括:对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典;通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测;判断液晶面板图像中是否存在线缺陷;若液晶面板图像中存在线缺陷,则获取线缺陷特征;根据线缺陷特征对线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值;将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。本申请中GMQM的线缺陷Code字典可进行自主编辑,实现了用户依据自身GMQM中的缺陷种类进行线缺陷分类及分析,方便了用户查询线缺陷中每类缺陷发生概率,进而改善了生产工艺,减少了系统性缺陷发生概率,提高了企业效益。
技术领域
本申请涉及缺陷检测技术领域,尤其涉及一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统。
背景技术
随着手机、车载以及TV等可显示电子产品的快速更新换代,市场对液晶面板的需求越来越大。屏幕生产过程中,大部分检测主要依赖人工,而现有的人工缺陷检测效率低、认为误差大,已不再适应急速增长的生产需求,基于工业相机的AOI(Autiomatic OpticInspection,自动光学检测)技术逐渐成为主流。
液晶面板需求量增大,客户对面板质量要求不断提高,GMQM(Grand Master ofQuality Management,质量管理大师)已逐步在各大液晶面板企业使用,企业运用GMQM的方法,不仅能加速生产流程,使流程更加优化简洁,而且还可以依据记录的缺陷类型以及Code减少系统性缺陷发生概率,协助分析系统性缺陷发生原因,改善生产工艺,降低经营质量成本和现场维成本,减少经营亏损,从而使企业的效益提升。
但是,目前AOI检测技术主要基于传统机器视觉算法设计将缺陷检出,在AOI检测系统内部依据缺陷不同特征以及表现形式对缺陷进行分类,或者根据企业提出的缺陷Code直接系统内部固定。这种情况下,后期企业GMQM缺陷Code一旦发生变化,导致企业无法依据自身缺陷种类进行缺陷记录以及分析。
发明内容
本申请提供了一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统,以解决目前企业GMQM缺陷Code发生变化时,企业无法依据自身缺陷种类进行缺陷记录及分析的问题。
为了解决上述技术问题,本申请实施例公开了如下技术方案:
第一方面,本申请实施例公开了一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,所述方法包括:
对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典;
通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测;
判断所述液晶面板图像中是否存在线缺陷;
若所述液晶面板图像中存在线缺陷,则获取所述线缺陷的特征;
根据所述线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值;
将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。
可选的,对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典,包括:
在企业GMQM中添加类型线缺陷Code;
设定所述类型线缺陷优先级;
设定所述类型线缺陷的特征;
更新所述企业GMQM的线缺陷Code字典。
可选的,设定所述类型线缺陷的特征,包括:
设定所述类型线缺陷的个数;
判断所述类型线缺陷的个数是否达到第一预设值;
若所述类型线缺陷的个数未达到第一预设值,则设定所述类型线缺陷的面积占比;
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