[发明专利]一种功率器件热阻测试方法在审
申请号: | 202010101361.0 | 申请日: | 2020-02-19 |
公开(公告)号: | CN111198314A | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 洪思忠;胡羽中 | 申请(专利权)人: | 华芯威半导体科技(北京)有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 | 代理人: | 张宇锋 |
地址: | 100744 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 功率 器件 测试 方法 | ||
1.一种功率器件热阻测试方法,其特征在于,包括:
S1、将被测功率器件置于高温烘箱中,功率器件的两管腿接耐高温测试探头,探头另一端接入曲线分析仪;
S2、高温烘箱依次设置若干个测试温度点;
S3、在每一个温度点保持至少30分钟,以保证器件结温达到平衡与烘箱设置温度相同,此时,通过曲线分析仪测量IV曲线;
S4、根据步骤S3中测试得到的若干温度点的IV曲线进而拟合成温度、电流和压降的三维图;
S5、使用设定数值的电流对被测功率器件进行热阻测试,测定压降值,通过调取所述三维图中的数值,带入热阻的计算公式中,进行计算,即可得到被测功率器件的热阻值。
2.根据权利要求1所述的功率器件热阻测试方法,其特征在于,步骤S2中的测试温度点包括:25℃、50℃、75℃、100℃、125℃、150℃、175℃。
3.根据权利要求1所述的功率器件热阻测试方法,其特征在于,步骤S3中使用曲线分析仪测量IV曲线时,测试电流的范围是0mA~100mA。
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