[发明专利]一种KIT板的智能检测方法及装置

权利要求书

1.一种KIT板的智能检测方法，其特征在于，包括：

对标准KIT板进行扫描测距，获得标准KIT板上各个点与扫描测距模块之间的距离；

将测得的距离映射为二维彩色图像；

采用openCV图像处理算法，提取二维彩色图像中部件的轮廓，得到部件的基础模板文件；

根据基础模板文件中的轮廓，计算各部件的特征数据，保存为模板特征数据，得到扩展模板文件；所述特征数据包括灰度值、面积值及高度值；

重复上述步骤，建立包括与所有待测KIT板型号相对应的标准KIT板的模板特征数据库；

对待测KIT板进行扫描，得到待测KIT板的特征数据，调用模板特征数据库中的模板特征数据，比较待测KIT板的特征数据与模板特征数据的大小，判断是否存在部件空位或部件尺寸错误。

2.如权利要求1所述的KIT板的智能检测方法，其特征在于，对标准KIT板进行扫描测距，具体包括：

采用激光位移传感器对标准KIT板的上表面及下表面逐行进行扫描，获得标准KIT板上各个点到激光位移传感器的距离；

根据标准KIT板上的最小部件的水平尺寸，确定扫描精度；

扫描范围覆盖整个标准KIT板且超过标准KIT板的边缘。

3.如权利要求1所述的KIT板的智能检测方法，其特征在于，将测得的距离映射为二维彩色图像，具体包括：

将测得的距离构成距离矩阵H，H表示为：

H＝[h_iu]

其中，h表示扫描标准KIT板表面得到的距离值，M表示沿标准KIT板长边方向依次扫描的点数，N表示沿KIT板短边方向依次扫描的行数，i＝0,1,2,…,M-1，j＝0,1,2,…,N-1；

将距离矩阵H，根据每行扫描的点数M和扫描的行数N，映射为二维彩色图像，扫描的点数M映射为图像宽度，扫描的行数N映射为图像高度，映射关系用公式表示为：

H＝[R，G，B]^T·w

其中，h_iu＝R_iu·σ_r+G_iu·σ_g+B_iu·σ_b

其中，σ_r，σ_g，σ_b分别为颜色分量R，G，B的转化系数，w为整体转化比例系数。

4.如权利要求1所述的KIT板的智能检测方法，其特征在于，建立部件的基础模板文件，具体包括：

采用OpenCV图像处理算法，通过灰度化、二值化、膨胀处理后，进行部件的轮廓提取；

取轮廓最大矩形区域作为部件框位置信息，建立部件框基础模板文件。

5.如权利要求4所述的KIT板的智能检测方法，其特征在于，为便于进行轮廓提取，将标准KIT板上表面或下表面的平面部分设为零平面，将扫描测距模块到零平面的距离设为基准距离值，将基准距离值减去扫描的距离值，得到校准后的距离值，将校准后的距离矩阵映射为二维彩色图像。

6.如权利要求5所述的KIT板的智能检测方法，其特征在于，建立扩展模板文件，具体包括：

根据部件框基础模板文件中的部件框位置信息，计算灰度图中部件框轮廓区域内的面积值、灰度平均值；

还原二维彩色图像中的距离值，距离值即为部件的高度值；

结合部件框基础模板文件，将特征数据保存为扩展模板文件；所述特征数据包括各部件的面积值、灰度平均值及高度值。