[发明专利]半导体装置及调试系统在审

专利信息
申请号: 202010112324.X 申请日: 2020-02-24
公开(公告)号: CN111625411A 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 西山高浩 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F13/16
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 调试 系统
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:处理部,执行程序;存储部,具有被分配了多个地址的多个存储区域,且能够执行读出动作或写入动作;以及总线,连接在所述处理部及所述存储部;所述半导体装置的特征在于:

所述处理部能够基于所述程序,执行读出访问或写入访问,所述读出访问是通过将准许所述读出动作的读出使能信号及指定所述多个地址中的任一个的地址信号输出到所述总线,而使所述存储部进行所述读出动作,所述写入访问是通过将写入数据、准许所述写入动作的写入使能信号及所述地址信号输出到所述总线,而使所述存储部进行所述写入动作,

当进行了所述读出访问时,所述存储部进行所述读出动作,也就是将与经由所述总线从所述处理部输入的所述地址信号对应的存储区域内的数据作为读出数据输出到所述总线,这时,所述读出数据经由所述总线而被输入到所述处理部,

当进行了所述写入访问时,所述存储部进行所述写入动作,也就是将与所述写入数据对应的数据存储到与经由所述总线从所述处理部输入的所述地址信号对应的存储区域,

在该半导体装置中还具备监控部,所述监控部当在所述处理部所进行的访问中存在符合所设定的监控条件的访问时,锁存要经由所述总线而传送的所述读出数据或所述写入数据。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:

所述监控部具有:设定部,设定了所述监控条件;判定部,判定所述处理部所进行的访问是否符合所述监控条件;及锁存部,在所述处理部所进行的访问符合所述监控条件的情况下锁存所述读出数据或所述写入数据。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于:

在所述监控条件中,设定对象地址及对象访问种类,

所述判定部当通过所述处理部所进行的访问所指定的地址与所述对象地址一致且所述处理部进行适合所述对象访问种类的访问时,判定为所述处理部所进行的访问符合所述监控条件。

4.根据权利要求3所述的半导体装置,其特征在于:

在所述对象访问种类包含所述读出访问的情况下,当所述处理部对所述对象地址进行所述读出访问时,利用所述锁存部锁存所述读出数据。

5.根据权利要求3或4所述的半导体装置,其特征在于:

在所述对象访问种类包含所述写入访问的情况下,当所述处理部对所述对象地址进行所述写入访问时,利用所述锁存部锁存所述写入数据。

6.一种半导体装置,具备:处理块,包含各自执行程序的第1~第n处理部(n为2以上的整数);存储部,具有被分配了多个地址的多个存储区域,且能够执行读出动作或写入动作;以及总线,连接在各处理部及所述存储部;所述半导体装置的特征在于:

各处理部能够基于对应的程序,执行读出访问或写入访问,所述读出访问是通过将准许所述读出动作的读出使能信号及指定所述多个地址中的任一个的地址信号输出到所述总线而使所述存储部进行所述读出动作,所述写入访问是通过将写入数据、准许所述写入动作的写入使能信号及所述地址信号输出到所述总线而使所述存储部进行所述写入动作,

当由第i处理部进行了所述读出访问时,所述存储部进行所述读出动作,也就是将与经由所述总线从所述第i处理部输入的所述地址信号对应的存储区域内的数据作为读出数据输出到所述总线,这时,所述读出数据经由所述总线而被输入到所述第i处理部(i为1以上n以下的整数),

当由所述第i处理部进行了所述写入访问时,所述存储部进行所述写入动作,也就是将与来自所述第i处理部的所述写入数据对应的数据存储到与经由所述总线从所述第i处理部输入的所述地址信号对应的存储区域,

在该半导体装置中还具备监控部,所述监控部当在所述处理块所进行的访问中存在符合所设定的监控条件的访问时,锁存要经由所述总线而传送的所述读出数据或所述写入数据。

7.根据权利要求6所述的半导体装置,其特征在于:

所述监控部具有:设定部,设定了所述监控条件;判定部,判定所述处理块所进行的访问是否符合所述监控条件;及锁存部,在所述处理块所进行的访问符合所述监控条件的情况下锁存所述读出数据或所述写入数据。

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