[发明专利]半导体装置及调试系统

说明书

本发明不对程序的执行动作产生影响地监控CPU等的读出或写入数据。本发明涉及一种半导体装置及调试系统。LSI具备：处理部，执行程序；存储部，能够执行读出动作或写入动作；内部总线，连接在处理部及存储部；以及监控部(21)。处理部能够执行读出访问或写入访问，该读出访问是将读出使能信号(RE)及地址信号(ADD)输出到内部总线，该写入访问是将写入数据(WD)、写入使能信号(WE)及地址信号输出到内部总线。存储部响应读出访问而将读出数据输出到内部总线，响应写入访问而存储写入数据。监控部在存在符合所设定的监控条件的访问时，锁存要经由内部总线而传送的读出数据或写入数据。

技术领域

本发明涉及一种半导体装置及调试(Debug)系统。

背景技术

在具备执行程序的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)等的半导体装置中，开发所执行的程序时多数情况下使用调试系统。调试系统是通过显示半导体装置内的存储电路的存储数据、或提供对开发对象的程序进行特定操作的功能，来支援程序的调试作业。

图11中表示调试系统的构成例。图11的调试系统包含作为内置有CPU的LSI(LargeScale Integration，大规模集成电路)的半导体装置910、及外部装置930。半导体装置910具备CPU911、内部总线912、ROM(Read Only Memory，只读存储器)913、RAM(Random AccessMemory，随机存取存储器)914、内置有寄存器916的外围设备915及调试用电路917。由CPU911执行的程序成为调试的对象。CPU911基于自身所执行的程序而通过内部总线912从ROM913、RAM914或寄存器916读取值(程序或数据)、或者进行基于所读取的值的运算并将运算结果写入到RAM914或寄存器916。

外部装置930包含执行调试软件的主计算机、或主计算机与半导体装置910间的接口装置等。外部装置930可以通过调试用电路917访问内部总线912，由此访问ROM913、RAM914或寄存器916等。

[背景技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利第3775462号公报

[专利文献2]日本专利特开平8-161191号公报

发明内容

[发明要解决的问题]

在CPU911所执行的程序的调试作业中，有如下要求：欲实时地监控及追踪CPU911从寄存器等读取到哪种值、或将哪种值写入到寄存器等。另一方面，为了调试而搭载在半导体装置910的电路与原本的半导体装置910的动作无关，所以理想的是尽可能设为小规模的电路，且必须不影响程序的动作。

如上所述，外部装置930可以通过访问内部总线912来访问ROM913、RAM914或寄存器916等，但在该访问中，无法准确地获知CPU911所读取的值(读出数据)或所写入的值(写入数据)。这是因为以下的第1理由及第2理由。

作为第1理由，可列举如下点：存储在RAM914或寄存器916等中的值也可以利用内置在半导体装置910中的除CPU911以外的硬件(为外围设备块或DMA控制器(Direct MemoryAccess Controller，直接存储器存取控制器)，以下称为内部HW(Highway，高速通道))来更新。

作为第2理由，可列举如下点：存在使用在读出访问时与写入访问时进行不同动作的RAM914或寄存器916等的情况。

对表示CPU911无法准确地获知所读取的值或所写入的值的状况的具体例进行说明。为了说明的具体化，考虑成为监控对象的存储电路为寄存器，将该寄存器称为对象寄存器。