[发明专利]具风险评估的取样参数搜寻系统、方法与图案化用户接口

说明书

一种具风险评估的取样参数搜寻系统、方法与图案化用户接口。取样参数搜寻系统包括数据提取单元、目标式满足分数计算单元、限制式满足机率计算单元、取样风险评估单元及优化单元。若推荐取样参数的限制式满足机率介于第一预定值及第二预定值之间，则优化单元调整推荐取样参数，以优化限制式满足机率模型。

技术领域

本揭露是有关于一种具风险评估的取样参数搜寻系统、方法与图案化用户接口。

背景技术

在许多产业的优化搜寻技术上，通常是必须满足某些限制式下，求取能够获得最佳目标式输出值的取样参数。以薄膜制程为例，研究人员必须找到一组制程参数(如射频能量、SiH₄数量、NH₃数量)，使得膜厚在一定规格条件内，应力最小。以化工制程为例，研究人员必须找到一组操作参数(如化学物的添加量、冷却水的控制条件、循环回流比)，使得反应温度在一定限制安全条件内，产品的产率最大。

此些应用情境上的目标式与限制式都是未知的黑盒子(black-box)，在实验之前无法得知目标式输出值是否为最优者且无法得知限制式输出值是否满足限制条件门坎值。

目前现有的优化搜寻技术容易混淆目标式及限制式的效应，提取过多不符合条件限制的取样点，造成搜寻参数的效率不佳等问题。因此，如何提升最佳取样参数的搜寻效率是研究人员努力的方向之一。

发明内容

本揭露是有关于一种具风险评估的取样参数搜寻系统、方法与图案化用户接口。

根据本揭露的一实施例，提出一种具风险评估的取样参数搜寻系统。取样参数搜寻系统包括数据提取单元、目标式满足分数计算单元、限制式满足机率计算单元、取样风险评估单元及优化单元。数据提取单元用以根据至少一已操作取样参数，取得至少一目标式输出值及至少一限制式输出值。目标式满足分数计算单元用以根据已操作取样参数及目标式输出值，获得目标式满足分数模型。限制式满足机率计算单元用以根据已操作取样参数及限制式输出值，获得限制式满足机率模型。取样风险评估单元用以根据目标式满足分数模型，取得推荐取样参数；并根据推荐取样参数及限制式满足机率模型，评估推荐取样参数的限制式满足机率。若推荐取样参数的限制式满足机率大于或等于第一预定值，则输出推荐的取样参数。若推荐取样参数的限制式满足机率介于第一预定值及第二预定值之间，则优化单元调整推荐取样参数，以优化限制式满足机率模型。

根据本公开的一实施例，提出一种具风险评估的取样参数搜寻方法。取样参数搜寻方法包括以下步骤。根据至少一已操作取样参数，取得至少一目标式输出值及至少一限制式输出值。根据已操作取样参数及目标式输出值，获得目标式满足分数模型。根据已操作取样参数及限制式输出值，获得限制式满足机率模型。根据目标式满足分数模型，取得推荐取样参数；并根据推荐取样参数及限制式满足机率模型，评估推荐取样参数的限制式满足机率。若推荐取样参数的限制式满足机率大于或等于第一预定值，则输出推荐取样参数。若推荐取样参数的限制式满足机率介于第一预定值及第二预定值之间，则调整推荐取样参数，以优化限制式满足机率模型。

根据本公开的一实施例，提出一种图形化用户接口。图形化用户接口包括目标式满足分数模型窗口、限制式满足机率模型窗口及取样信息窗口。目标式满足分数模型窗口用以显示目标式满足分数模型。目标式满足分数模型是根据已操作至少一取样参数及至少一目标式输出值所获得。限制式满足机率模型窗口用以显示限制式满足机率模型。限制式满足机率模型是根据已操作取样参数及至少一限制式输出值所获得。取样信息窗口用以显示推荐取样参数及限制式满足机率，推荐取样参数是根据目标式满足分数模型所取得。限制式满足机率是根据推荐取样参数及限制式满足机率模型所获得。

为了对本公开的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举实施例，并配合所附附图详细说明如下。

附图说明

图1为一实施例提供的具风险评估的取样参数搜寻系统的示意图；

图2为一实施例提供的具风险评估的取样参数搜寻方法的流程图；