[发明专利]掩膜板的污渍检测方法和设备

说明书

本发明实施例公开了一种掩膜板的污渍检测方法和设备。该掩膜板的污渍检测方法包括：预先设定一组尺寸从大到小排列的多级标准图像，调取所述多级标准图像中尺寸非最小的一级标准图像作为对比图像与所述待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像；其中，包含污渍的待测掩膜板图像的局部图像的尺寸逐级缩小，避免了针对掩膜板图像中的每个开口逐个进行比对的方式，因此，本发明实施例能够更快地定位污渍的位置。与现有技术相比，本发明实施例提升了污渍检测的效率。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种掩膜板的污渍检测方法和设备。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板的应用范围越来越广泛，人们对显示面板的要求越来越高，显示面板生产厂商对显示面板的工艺要求也越来越高。

其中，蒸镀工艺是面板制造工艺的重要步骤，掩膜板是蒸镀工艺中使用的关键部件。随着蒸镀生产的进行，掩膜板表面会残留蒸镀材料，形成污渍，遮挡掩膜板的开孔。若掩膜板上的污渍不能及时有效地检出，采用含有污渍的掩膜板进行生产，会影响显示面板的产品良率。然而，现有的污渍检测方法存在检测效率低的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种掩膜板的污渍检测方法和设备，以提升污渍检测的效率。

为实现上述技术目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种掩膜板的污渍检测方法，包括：

预先设定一组尺寸从大到小排列的多级标准图像；所述多级标准图像中，第一级标准图像为待测掩膜板的局部标准图像，所述标准图像中其余级别图像为其前一级标准图像的局部标准图像；

获取待测掩膜板图像；

以所述待测掩膜板图像全部区域为待测区域图像，调取所述多级标准图像中尺寸非最小的一级标准图像作为对比图像与所述待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像；

若所述局部图像包含污渍图像，则以所述局部图像作为新的待测区域图像，调取所述对比图像的下一级标准图像作为新的对比图像，与所述新的待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像，并循环执行此步骤直至调取的所述对比图像为所述多级标准图像中最小级别标准图像，以得到待测掩膜板图像中污渍图像位置。

从上述技术方案可以看出，本发明实施例创造性地提供了一种新的掩膜板的污渍检测方法，与现有技术不同的是，本发明实施例逐级缩小对比图像的尺寸，对应地，包含污渍的待测掩膜板图像的局部图像的尺寸逐级缩小，避免了针对掩膜板图像中的每个开口逐个进行比对的方式，因此，本发明实施例能够更快地定位污渍的位置，提升了污渍检测效率。

进一步地，所述多级标准图像包括尺寸从大到小排列的第一级标准图像、第二级标准图像和第三级标准图像；

在所述获取待测掩膜板图像之后，包括：

以所述待测掩膜板图像全部区域为待测区域图像，调取所述第一级标准图像作为对比图像与所述待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像；

若所述局部图像包含污渍图像，则以所述局部图像作为新的待测区域图像，调取所述第二级标准图像作为新的对比图像，与所述新的待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像；

若所述局部图像包含污渍图像，则以所述局部图像作为新的待测区域图像，调取所述第三级标准图像作为新的对比图像，与所述新的待测区域图像进行对比，根据对比结果判断所述待测区域图像的局部图像是否包含污渍图像；得到待测掩膜板图像中污渍图像位置。