[发明专利]波长计、获取波长计的参数的方法以及在线校准的方法

权利要求书

1.一种波长计，其特征在于，所述波长计包括第一分光器、第一光路变换器、标准具、多个第一光电探测器和多个第二光电探测器；

所述第一分光器用于将校准光入口输入的校准光进行分光得到多束子校准光，其中，所述多束子校准光中包括第一子校准光和第二子校准光；

所述第一光路变换器用于改变所述第一子校准光和/或第二子校准光的传播方向，以使所述第一子校准光进入所述第一光电探测器，使所述第二子校准光进入所述标准具；

所述标准具用于所述第二子校准光进行干涉处理，获得第三子校准光；

所述多个第一光电探测器用于将接收到的所述第一子校准光或所述第三子校准光转换为多个第一电信号，所述多个第一电信号用于校准所述波长计；

所述第一分光器还用于将待测光入口输入的待测光进行分光得到多束子待测光，其中，所述多束子待测光中包括第一子待测光和多束第二子待测光；

所述第一光路变换器还用于改变所述第一子待测光和/或所述第二子待测光的传播方向；

所述标准具还用于所述多束第二子待测光分别进行干涉处理，获得多束第三子待测光；

所述多个第二光电探测器用于将接收到的所述第一子待测光或所述第三子待测光转换为多个第二电信号，所述多个第二电信号用于确定所述待测光的波长。

2.根据权利要求1所述的波长计，其特征在于，所述波长计还包括线性滤波器和第三光电探测器；

所述多束子待测光还包括第四子待测光；

所述线性滤波器用于将接收到的所述第四子待测光进行滤波处理，获得第五子待测光；

所述第三光电探测器用于将所述第五子待测光转换为第三电信号，所述第三电信号用于确定所述待测光的波长在所述待测光对应的参考透射率曲线中的波长位置。

3.根据权利要求1或2所述的波长计，其特征在于，所述波长计还包括处理器；

所述处理器与所述多个第一光电探测器电性连接；

所述处理器与所述多个第二光电探测器电性连接；

所述处理器用于根据所述多个第一光电探测器提供的校准参数，校准所述波长计，所述处理器还用于根据所述多个第二光电探测器提供的第一测量参数，确定所述待测光的波长。

4.一种获取波长计的参数的方法，其特征在于，应用于权利要求1至3任一项所述的波长计，所述方法包括：

将输入的一束光进行分光，获得多束子光束，其中，所述多束子光束包括第一子光束和第二子光束；

将所述第一子光束转换为第一电信号，将所述第二子光束进行干涉处理，获得第三子光束；

将所述第三子光束转换为第二电信号；

将所述第一电信号和所述第二电信号的电压值或电流值，作为所述波长计的参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述波长计的参数为校准参数，所述校准参数用于校准所述波长计；

所述将输入的一束光进行分光，获得多束子光束，包括：将每次输入的校准光进行分光，获得多束子校准光，其中，所述多束子校准光包括第一子校准光和第二子校准光，所述校准光包括多种波长的单色光，且按照预设顺序输入；

所述将所述第一子光束转换为第一电信号，将所述第二子光束进行干涉处理，获得第三子光束，包括：将所述第一子校准光转换为第一电信号，将所述第二子校准光进行干涉处理，获得第三子校准光；

所述将所述第三子光束转换为第二电信号，包括：将所述第三子校准光转换为第二电信号。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述波长计的参数为第一测量参数，所述第一测量参数用于确定待测光的波长；

所述将输入的一束光进行分光，获得多束子光束，包括：将输入的所述待测光进行分光，获得多束子待测光，其中，所述多束子待测光包括第一子待测光和多束第二子待测光；

所述将所述第一子光束转换为第一电信号，将所述第二子光束进行干涉处理，获得第三子光束，包括：将所述第一子待测光转换为第一电信号，分别将所述多束第二子待测光进行干涉处理，获得多束第三子待测光；

所述将所述第三子光束转换为第二电信号，包括：将所述多束第三子待测光分别转换为第二电信号。