[发明专利]波长计、获取波长计的参数的方法以及在线校准的方法

说明书

本申请提供了一种波长计、获取波长计的参数的方法以及在线校准的方法，属于光通信技术领域。该波长计包括第一分光器、第一光路变换器、标准具和多个第一光电探测器，第一分光器用于将输入的校准光进行分光得到多束子校准光，其中，多束子校准光中包括第一子校准光和第二子校准光，第一光路变换器用于改变第一子校准光和/或第二子校准光的传播方向，标准具用于第二子校准光进行干涉处理，获得第三子校准光，多个第一光电探测器用于将接收到的第一子校准光或第三子校准光转换为多个第一电信号，多个第一电信号用于校准波长计。采用本申请，可以在线校准波长计。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，特别涉及一种波长计、获取波长计的参数的方法以及在线校准的方法。

背景技术

激光频率是光通信中重要的参量，那么精确测量激光频率尤为重要。目前由于波长计具有较高的测量精度，所以被广泛应用于激光频率的测量，波长计可以是基于标准具(Etalon)的波长计。在利用基于Etalon的波长计进行波长测量时，根据光电探测器测量到待测光经过标准具后的光信号，确定出待测光的透射率，然后利用Etalon的参考透射率曲线，确定待测光的透射率在该参考透射率曲线对应的波长。由于利用Etalon测量波长的方法其测量精度和待测光波长处的透射率曲线的斜率相关(当波长处于透射率曲线斜率大的位置处时，该波长的测量精度较高，而当待测光波长处于透射率曲线的顶峰或者谷底时，其透射率斜率很低，该波长的测量精度较差)，所以基于Etalon的波长测量方案需要利用透射率曲线斜率较大的位置来满足高测量精度要求。

相关技术中，采用多个不同参数(Etalon的折射率、Etalon的端面反射率等)的Etalon来获得多条自由光谱区(Free Spectral Range，FSR)有差异的透射率曲线，通过用多条透射率曲线高斜率部分的拼接实现宽光谱范围内的高精度的波长测量。

在通信领域中，波长计应用于光通信系统中时，为了保证波长计的测量精度和业务的连续性，通过需要对波长计进行在线校准，然而相关技术中仅提供了测量波长的方案，并未提供校准的方案，所以需要一种在线校准波长计的方案。

发明内容

本申请提供了一种波长计、获取波长计的参数的方法以及在线校准的方法，用以在线校准波长计。

第一方面，提供了一种波长计，该波长计包括第一分光器、第一光路变换器、标准具和多个第一光电探测器。第一分光器用于将输入的校准光进行分光得到多束子校准光，其中，该多束子校准光中包括第一子校准光和第二子校准光。第一光路变换器用于改变第一子校准光和/或第二子校准光的传播方向。第一子校准光直接进入第一光电探测器可以作为校准光的参考光。标准具用于第二子校准光进行干涉处理，获得第三子校准光，输出至第一光电探测器，多个第一光电探测器用于将接收到的第一子校准光或第三子校准光转换为多个第一电信号，多个第一电信号用于校准波长计。这样，由于波长计中有校准光进入，且与测量待测光的部分共用一个标准具，所以可以对波长计进行校准，而不会对波长的测量部分造成影响，所以可以提供一种在线校准的波长计。

在一种可能的实现方式中，波长计还可以包括多个第二光电探测器，第一分光器还用于将输入的待测光进行分光得到多束子待测光，其中，该多束子待测光中包括第一子待测光和多束第二子待测光。第一光路变换器还用于改变第一子待测光和/或第二子待测光的传播方向。第一子待测光直接进入第二光电探测器可以作为待测光的参考光。标准具还用于多束第二子待测光分别进行干涉处理，获得多束第三子待测光，分别输出至不同的第二光电探测器。多个第二光电探测器用于将接收到的第一子待测光或第三子待测光转换为多个第二电信号，多个第二电信号用于确定待测光的波长。这样，由于波长计中可以使用第一分光器和第一光路变换器的组合，将一束待测光分为多个不同传播方向的第二子待测光，实现了多角度标准具，所以不需要多个标准具，即可实现波长的测量，简化波长计的结构。