[发明专利]一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法

权利要求书

1.一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，用于检测单相单箱在役盆式绝缘子（2）存在的缺陷，其特征在于：采用高频或者直流X射线源和数字平板探测器（4）进行检测，具体包括以下检测步骤：

步骤S01 垂直透照，将X射线源的焦点d沿待检测盆式绝缘子（2）轴线垂直的方向对盆式绝缘子（2）进行垂直透照，所述X射线源的焦点d发出的中心射线与完整覆盖所述盆式绝缘子（2）的盆子的数字平板探测器（4）垂直并交于数字平板探测器（4）的中心点O；

步骤S02 倾斜透照，将步骤S01中的X射线源的焦点d对盆式绝缘子（2）进行倾斜透照，保持X射线源的焦点d发出的中心射线始终垂直交于数字平板探测器（4）的中心点O，X射线源的焦点d发出的中心射线与GIS壳体（3）的夹角为β，所述盆式绝缘子（2）的曲面与GIS壳体（3）的夹角为a，所述a与β之和为90°；

步骤S03 多角度成像，按照步骤S02中的倾斜透照步骤，所述X射线源的焦点d和数字平板探测器（4）的相对安装位置不变并同时以所述盆式绝缘子（2）的轴线旋转N次，使得1-N次成像范围覆盖整个盆式绝缘子（2）；

步骤S04 分析步骤S03中获得的1-N次成像数据，判断缺陷是否存在，并与现有缺陷数据特征进行对比获得盆式绝缘子（2）的缺陷构成；所述步骤S02倾斜透照具体包括：

步骤S021 数字平板探测器（4）安装位置确定的步骤；将数字平板探测器（4）的平面与GIS壳体（3）保持a夹角，数字平板探测器（4）的左侧边缘相对于法兰（1）向盆式绝缘子（2）一侧水平偏移距离为l₃，所述l₃的计算方式如下：

θ= -a

l₃=

其中，θ为射线dA与GIS壳体的夹角；为X射线源焦点d到探测器的距离；n为探测器有效成像长度；a为盆式绝缘子曲面与GIS壳体的夹角；D为盆式绝缘子直径尺寸；

步骤S022 X射线源的焦点d安装位置确定的步骤，所述X射线源的焦点d始终与所述数字平板探测器（4）垂直且距离为，X射线源的焦点d相对于法兰（1）水平偏移距离为l₂，所述l₂的计算方式如下：

l₂=cosθ- l₅ -

其中，l₅为法兰厚度;

所述步骤S03 多角度成像具体还包括确定成像次数N的步骤，具体计算方式如下：

其中，K：射线透照厚度比值，即最大裂纹检出角，取1.1；

γ：盆式绝缘子有效透照范围对应圆心角的半值；

ω：射线束边界与盆式绝缘子中心的夹角；

η：有效射线束角度的半值。

2.根据权利要求1所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述垂直透照步骤中，X射线源的焦点d在水平方向上相对所述盆式绝缘子（2）固定连接的法兰（1）偏移范围为0-150mm。

3.根据权利要求2所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述X射线源的焦点d的中心射线到最近GIS壳体的距离f值不低于500mm。

4.根据权利要求3所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述步骤S02中的a角度值通过步骤S01垂直透照后获得的数字成像，提取盆式绝缘子（2）的曲面轮廓线和GIS壳体（3）的轮廓线夹角测得夹角a的值。