[发明专利]一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法有效

专利信息
申请号: 202010141639.7 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN111157558B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 杨为;张国宝;赵恒阳;朱太云;朱胜龙;宋东波;陈忠;蔡梦怡;曾德华;周维超 申请(专利权)人: 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;四川赛康智能科技股份有限公司
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18
代理公司: 成都中络智合知识产权代理有限公司 51300 代理人: 喻依丰
地址: 230000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 役盆式 绝缘子 射线 数字 成像 检测 方法
【说明书】:

本申请公开了一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法,用于检测单相单箱在役盆式绝缘子存在的缺陷,采用高频或者直流X射线源和数字平板探测器进行检测,具体包括以下检测步骤:步骤S01垂直透照,步骤S02倾斜透照,步骤S03多角度成像,按照步骤S02中的倾斜透照步骤,所述X射线源的焦点d和数字平板探测器的相对安装位置不变并同时以所述盆式绝缘子的轴线旋转N次,使得1‑N次成像范围覆盖整个盆式绝缘子。采用本发明所述方法能够克服现有的超声波法、超高频法和紫外方法存在的不可量化,抗干扰能力差,以及需要特定窗口进行检测,存在不同弊端,不能兼容现有的在役盆式绝缘子的检测问题。

技术领域

本发明涉及电力设备检测领域,尤其涉及采用无损方式对工作中的GIS附件进行缺陷检测方式技术领域,具体涉及在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法。

背景技术

盆式绝缘子是以改性环氧树脂为主,渗入氧化铝颗粒,通过真空浇筑工艺形成的一种复合材料。由于盆式绝缘子的材料和安装位置的特殊性,目前尚没有一种有效的方法对线上的盆式绝缘子进行快速检测。目前,局部放电检测方法是常用的GIS绝缘缺陷带电检测手段,应用此方法发现了一部分绝缘缺陷。然而局部放电检测方法只能给出粗略的判断,不能准确地判断缺陷类型和位置。

目前对于110-1000kV的在役盆式绝缘子缺陷检测,主要采用超声波法、超高频法和紫外方法对GIS局部放电进行检测。超声测试法由于干扰(主要是机械振动)的影响,对于判定放电是否有无,存在一定盲区。超高频法测量的是电磁波,抗干扰能力强。但是超高频电磁波在腔体内的传播特性复杂.且无法实现量化。紫外成像仪(uvCamera)够拍摄到放电过程中产生的紫外光子,并且能够实现量化。但是紫外成像法需要GIS壳体上有透明可拍摄的窗口,大部分GIS的盆式绝缘子来说不具备该条件。

实际上,盆式绝缘子表面附着一些细小的金属颗粒、内部存在小气孔、盆子表面存在一些小划伤等缺陷,在出现局放发生之前是没有任何异常的,以上方法都不能实现早期缺陷的排查。

X射线数字成像检测技术目前已经广泛应用于GIS电力设备的隔离刀闸、断路器、导体等部位的带电排查,而由于盆式绝缘子的特殊结构,本身是大曲面盆状工件、有GIS壳体、紧固螺栓、触头底座、法兰盘、导电杆等的干扰影响,导致常规的X射线检测方法无法实现对在役盆式绝缘子缺陷的检测。

发明内容

为了解决背景技术中提及的现有检测方式存在的弊端和问题,本申请提供一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法,用于克服现有超声波法、超高频法和紫外方法对GIS局部放电进行检测存在的不足,解决高压线路中的在役盆式绝缘子缺陷的检测,实现缺陷提前发现,及时解决,避免因检测排查不及时导致盆式绝缘子工作异常所带来的不必要的损失。

为了达到上述目的,本申请所采用的技术方案为:

一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法,用于检测单相单箱在役盆式绝缘子存在的缺陷,采用高频或者直流X射线源和数字平板探测器进行检测,具体包括以下检测步骤:

步骤S01垂直透照,将X射线源的焦点d沿待检测盆式绝缘子轴线垂直的方向对盆式绝缘子进行垂直透照,所述X射线源的焦点d发出的中心射线与完整覆盖所述盆式绝缘子的盆子的数字平板探测器垂直并交于数字平板探测器的中心点O;

步骤S02倾斜透照,将步骤S01中的X射线源的焦点d对盆式绝缘子进行倾斜透照,保持X射线源的焦点d发出的中心射线始终垂直交于数字平板探测器的中心点O,X射线源的焦点d发出的中心射线与GIS壳体的夹角为β,所述盆式绝缘子的曲面与GIS壳体的夹角为a,所述a与β之和为90°;在X射线数字成像后,提取盆式绝缘子的曲面轮廓线和GIS壳体轮廓线,测量夹角a,并分析导电杆、触头底座等位置的螺丝松动、金属异物、气孔、裂纹、装配不到位缺陷。

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