[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010142793.6 申请日: 2020-03-04
公开(公告)号: CN112509614A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 位田友哉 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C5/02 分类号: G11C5/02
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

设置在基板的上表面的N型的第1阱区域和P型的第2阱区域;

设置在所述第1阱区域的PMOS晶体管;以及

设置在所述第2阱区域的NMOS晶体管,

所述PMOS晶体管具备:

设置在所述第1阱区域上的第1栅极绝缘层;和

设置在所述第1栅极绝缘层上的第1栅电极,

所述NMOS晶体管具备:

设置在所述第2阱区域上的第2栅极绝缘层;和

设置在所述第2栅极绝缘层上的第2栅电极,

所述第1栅电极具备:

P型的第1半导体层;

设置在所述第1半导体层上的第1绝缘层;以及

设置在所述第1绝缘层上的第1导电体层,

所述第2栅电极具备:

N型的第2半导体层;

设置在所述第2半导体层上的第2绝缘层;以及

设置在所述第2绝缘层上的第2导电体层,

所述第1绝缘层的膜厚比所述第2绝缘层的膜厚厚。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,

所述PMOS晶体管还具备设置在所述第1阱区域的上表面的P型的第1扩散层以及第2扩散层,

所述第1栅极绝缘层设置在所述第1扩散层与所述第2扩散层之间的所述第1阱区域上。

3.根据权利要求1所述的半导体装置,

所述NMOS晶体管还具备设置在所述第2阱区域的上表面的N型的第3扩散层以及第4扩散层,

所述第2栅极绝缘层设置在所述第3扩散层与所述第4扩散层之间的所述第2阱区域上。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,还具备:

设置在所述第1导电体层上的第1插塞;和

设置在所述第2导电体层上的第2插塞。

5.根据权利要求1所述的半导体装置,

所述第1栅电极还具备含有碳的P型的第3半导体层,所述第3半导体层设置在所述第1栅极绝缘层与所述第1半导体层之间。

6.根据权利要求1所述的半导体装置,

所述第2栅电极还具备含有碳的N型的第4半导体层,所述第4半导体层设置在所述第2半导体层与所述第2绝缘层之间。

7.根据权利要求1所述的半导体装置,还具备:

第1布线层,其设置在所述PMOS晶体管以及所述NMOS晶体管的上方;

多个第2布线层,其分离地层叠在所述第1布线层的上方;以及

第5半导体层,其穿过所述多个第2布线层,与所述第1布线层连接。

8.根据权利要求7所述的半导体装置,还具备:

电荷蓄积层,其设置在所述多个第2布线层与所述第5半导体层之间;

第4绝缘层,其设置在所述多个第2布线层与所述电荷蓄积层之间;以及

第3绝缘层,其设置在所述电荷蓄积层与所述第5半导体层之间。

9.根据权利要求5所述的半导体装置,

所述第2栅电极还具备含有碳的N型的第4半导体层,所述第4半导体层设置在所述第2半导体层与所述第2绝缘层之间。

10.一种半导体装置,具备:

设置在基板的上表面的N型的第1阱区域;和

设置在所述第1阱区域的PMOS晶体管,

所述PMOS晶体管具备:

设置在所述第1阱区域上的第1栅极绝缘层;和

设置在所述第1栅极绝缘层上的第1栅电极,

所述第1栅电极具备:

含有碳的P型的第1半导体层;

设置在所述第1半导体层上的P型的第2半导体层;

设置在所述第2半导体层上的第1绝缘层;以及

设置在所述第1绝缘层上的第1导电体层。

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