[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202010142793.6 | 申请日: | 2020-03-04 |
公开(公告)号: | CN112509614A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 位田友哉 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | G11C5/02 | 分类号: | G11C5/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张轶楠;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,具备:
设置在基板的上表面的N型的第1阱区域和P型的第2阱区域;
设置在所述第1阱区域的PMOS晶体管;以及
设置在所述第2阱区域的NMOS晶体管,
所述PMOS晶体管具备:
设置在所述第1阱区域上的第1栅极绝缘层;和
设置在所述第1栅极绝缘层上的第1栅电极,
所述NMOS晶体管具备:
设置在所述第2阱区域上的第2栅极绝缘层;和
设置在所述第2栅极绝缘层上的第2栅电极,
所述第1栅电极具备:
P型的第1半导体层;
设置在所述第1半导体层上的第1绝缘层;以及
设置在所述第1绝缘层上的第1导电体层,
所述第2栅电极具备:
N型的第2半导体层;
设置在所述第2半导体层上的第2绝缘层;以及
设置在所述第2绝缘层上的第2导电体层,
所述第1绝缘层的膜厚比所述第2绝缘层的膜厚厚。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述PMOS晶体管还具备设置在所述第1阱区域的上表面的P型的第1扩散层以及第2扩散层,
所述第1栅极绝缘层设置在所述第1扩散层与所述第2扩散层之间的所述第1阱区域上。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述NMOS晶体管还具备设置在所述第2阱区域的上表面的N型的第3扩散层以及第4扩散层,
所述第2栅极绝缘层设置在所述第3扩散层与所述第4扩散层之间的所述第2阱区域上。
4.根据权利要求1所述的半导体装置,还具备:
设置在所述第1导电体层上的第1插塞;和
设置在所述第2导电体层上的第2插塞。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述第1栅电极还具备含有碳的P型的第3半导体层,所述第3半导体层设置在所述第1栅极绝缘层与所述第1半导体层之间。
6.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述第2栅电极还具备含有碳的N型的第4半导体层,所述第4半导体层设置在所述第2半导体层与所述第2绝缘层之间。
7.根据权利要求1所述的半导体装置,还具备:
第1布线层,其设置在所述PMOS晶体管以及所述NMOS晶体管的上方;
多个第2布线层,其分离地层叠在所述第1布线层的上方;以及
第5半导体层,其穿过所述多个第2布线层,与所述第1布线层连接。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,还具备:
电荷蓄积层,其设置在所述多个第2布线层与所述第5半导体层之间;
第4绝缘层,其设置在所述多个第2布线层与所述电荷蓄积层之间;以及
第3绝缘层,其设置在所述电荷蓄积层与所述第5半导体层之间。
9.根据权利要求5所述的半导体装置,
所述第2栅电极还具备含有碳的N型的第4半导体层,所述第4半导体层设置在所述第2半导体层与所述第2绝缘层之间。
10.一种半导体装置,具备:
设置在基板的上表面的N型的第1阱区域;和
设置在所述第1阱区域的PMOS晶体管,
所述PMOS晶体管具备:
设置在所述第1阱区域上的第1栅极绝缘层;和
设置在所述第1栅极绝缘层上的第1栅电极,
所述第1栅电极具备:
含有碳的P型的第1半导体层;
设置在所述第1半导体层上的P型的第2半导体层;
设置在所述第2半导体层上的第1绝缘层;以及
设置在所述第1绝缘层上的第1导电体层。
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