[发明专利]一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法

权利要求书

1.一种电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：构建关键分系统/设备-系统评估框架；

步骤2：获取在某外部强电磁环境作用下，各关键分系统/设备的实际电磁加载；

步骤3：获取关键分系统/设备在不同电磁加载下的受损概率，得到受损概率曲线；

步骤4：依据实际电磁加载和受损概率曲线，计算关键分系统/设备的受损概率；

步骤5：利用关键分系统/设备-系统评估框架，根据关键分系统/设备的受损概率确定电子系统对某强电磁环境的适应概率；

步骤1包括如下子步骤：

步骤1.1，在某外部强电磁环境下，按功能结构关系对被评估电子系统进行分解，并依据功能重要程度和电磁敏感度筛选出关键分系统/设备，关键分系统/设备数量为N；

步骤1.2，结合电磁拓扑理论，并依据关键分系统/设备与系统间的功能结构关系，构建出关键分系统/设备-系统评估框架；

步骤1.3，在该评估框架下，电子系统对某强电磁脉冲环境的适应概率按公式计算；

式中，P_i表示第i个关键分系统/设备的受损概率；

步骤4包括如下子步骤：

步骤4.1，针对第i个关键分系统/设备，将经步骤2获取的第i个关键分系统/设备的实际电磁加载S_i代入到经步骤3获得的该第i个关键分系统/设备的受损概率曲线P_i(s_i)中，计算得到受损概率P_i；

步骤4.2，重复步骤4.1，得到所有N个关键分系统/设备的受损概率P₁，P₂，…，P_N-1，P_N。

2.根据权利要求1所述的电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，步骤2中获取在某外部强电磁环境作用下，各关键分系统/设备的实际电磁加载，可采用以下三种方式中的一种或多种组合的方式：

第一种方式为，基于电磁拓扑理论，分析计算得到关键分系统/设备在某外部强电磁环境作用下的实际电磁加载；

第二种方式为，建立整系统电磁耦合仿真模型，模拟得到关键分系统/设备在某外部强电磁环境作用下的实际电磁加载；

第三种方式为，通过整系统试验，测试得到关键分系统/设备在某外部强电磁环境作用下的实际电磁加载。

3.根据权利要求2所述的电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，采用所述第三种方式时，当试验能力不能满足整系统试验要求时，通过采用与外部强电磁环境具有相同频谱特征的低功率信号辐照整系统，获取传递函数，之后推衍得到关键分系统/设备上的实际电磁加载。

4.根据权利要求1所述的电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，步骤3包括如下子步骤：

步骤3.1，针对第i个关键分系统/设备，搭建受损概率测试平台；

步骤3.2，针对某一电磁加载，开展多样本/多次测试，并将损坏样本数/故障次数除以试验样本数/测试次数，得到第i个关键分系统/设备在这一电磁加载下的受损概率；

步骤3.3，改变电磁加载，重复步骤3.2中的测试，得到第i个关键分系统/设备在不同电磁加载下的受损概率；

步骤3.4，基于步骤3.2～3.3中测得的不同电磁加载下的受损概率，计算得到第i个关键分系统/设备的受损概率曲线P_i(s_i)；

步骤3.5，重复步骤3.1～3.4，获得所有N个关键分系统/设备的受损概率曲线P₁(s₁)，P₂(s₂)，…，P_N-1(s_N-1)，P_N(s_N)。

5.根据权利要求1所述的电子系统强电磁脉冲环境适应性量化评估方法，其特征在于，步骤5的方法为：将步骤4计算得到的所有N个关键分系统/设备的受损概率代入到评估框架中，依据公式计算得到电子系统对某强电磁脉冲环境的适应概率。